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QFP100-0.65翻蓋老化座國(guó)產(chǎn)替代本體尺寸14x20帶腳17.9x23.9mm

WLCSP6-0.4測(cè)試座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化驗(yàn)證

DFN8-2.08X8翻蓋老化座LFPAKHEMT芯片功率器件低阻抗大電流測(cè)試

BGA77-1.27-15x9翻蓋老化座LTM4664系列芯片失效性分析測(cè)試用途

TSSOP14腳芯片測(cè)試座IC老化座彈跳座子ots28-0.65-01SSOP14底座

QFN48測(cè)試座0.5間距7*7翻蓋空座彈片老化低阻抗ICC550-0484-004

QFP44-0.8下壓老化座用于MCUARM芯片主控測(cè)試調(diào)試以及老化實(shí)驗(yàn)

QFN280.5間距(4*4)芯片測(cè)試座翻蓋編程座燒寫座翻蓋探針老化座

QFN40(5x5)-0.4下壓老化座MCU測(cè)試燒錄用于JTAGSWSPI調(diào)試編程

QFN32-0.4測(cè)試座轉(zhuǎn)DIP32燒錄座編程座QFN32老化座4*4mm