公司名稱:濟(jì)南一諾試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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商務(wù)QQ:172331256
地址:濟(jì)南市市中區(qū)
濟(jì)南一諾世紀(jì)公司長(zhǎng)期供應(yīng)沖擊試驗(yàn)機(jī)的相關(guān)配套設(shè)備,主要分為三部分
1、 沖擊試樣缺口拉床:沖擊試樣缺口拉床主要分為三種:1、手動(dòng)沖擊試樣缺口拉床;2、電動(dòng)沖擊試樣缺口拉床;3、液壓沖擊試樣缺口拉床。
2、 沖擊試樣投影儀:我公司沖擊試樣缺口投影儀為放大50倍的光學(xué)儀器,精密度高質(zhì)量好。
3、 沖擊試樣低溫槽:我公司沖擊試驗(yàn)低溫槽分為:-30沖擊試樣低溫槽;-40沖擊試樣低溫槽;-60沖擊試樣低溫槽;-80沖擊試樣低溫槽,-100沖擊試樣低溫槽和-190超低溫沖擊試樣低溫槽等六種。
CSL-B型電動(dòng)沖擊試樣缺口拉床
1、CSL-B型電動(dòng)沖擊試樣缺口拉床概述
CSL-B型電動(dòng)沖擊試樣缺口拉床采用高精密滾珠絲杠傳動(dòng)、直線導(dǎo)軌作支撐,這種結(jié)構(gòu)保證了拉刀運(yùn)行的穩(wěn)定性及切口的幾何精度。本產(chǎn)品配備有雙工位拉刀,可同時(shí)加工兩個(gè)試樣缺口:一個(gè)V型和一個(gè)U型(也可兩個(gè)V型或兩個(gè)U型缺口)。無(wú)論加工V型還是U型缺口都不需要換刀,試樣缺口一次加工只需10秒鐘,操作簡(jiǎn)便可靠,加工出的V型和U型缺口可分別滿足GB2106-80《金屬夏比(V型缺口)沖擊試驗(yàn)方法》和GB229-94《金屬夏比(U型缺口)沖擊試驗(yàn)方法》以及ASTM E23,ISO148,ISO0083等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)中的相應(yīng)要求。
本沖擊試驗(yàn)拉床拉床所配拉刀采用W18Cr4V制造,硬度高,耐磨性好,每把拉刀可加工試樣達(dá)20,000多個(gè)。
2、CSL-B型電動(dòng)沖擊試樣缺口拉床技術(shù)參數(shù)
1. 加工缺口:V型(GB229-94)、U型(GB229-94)
2. 試樣尺寸:10×10×55、7.5×7.5×55、2.5×2.5×55
3. 拉刀行程:350mm
4. 拉削速度:2.3m/min
5. 工作電機(jī):380V 50Hz 0.4Kw
6. 外形尺寸:350×510×1280
7. 設(shè)備重量:180Kg
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀產(chǎn)品說(shuō)明:
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用光學(xué)儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進(jìn)行對(duì)比,以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,對(duì)比直觀,操作簡(jiǎn)單,效率高。是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀技術(shù)參數(shù):
投影屏: 200×200mm
放大倍數(shù): 50X
光源: 12V 100W(鹵鎢燈)
電源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×603mm
重量: 約18Kg
CDW-60沖擊試樣低溫槽
一、 CDW-60沖擊試樣低溫槽主要技術(shù)參數(shù):
1. 控溫范圍:室溫~- 60℃ (室溫≤25℃)
2. 恒溫精度:±0.5℃
3. 降溫速度:室溫~0℃ 約2.0℃/min
0℃~-20℃ 約1.5℃/min
-20℃~-40℃ 約1.0℃/min
-40℃~—60℃ 約0.7℃/min
4. 最大外形尺寸:900×505×850mm
5. 有效工作空間:250×160×120mm
6. 可裝試樣數(shù)量:>60(沖擊試樣尺寸:10×10×55mm)
7. 數(shù)顯計(jì)時(shí)器:1分~9999分,分辨率1分
8. 冷卻介質(zhì):乙醇或其它不凍液
9. 攪拌電機(jī):23W
10. 工作電源:220V~240V,50HZ,2.5KW
以上產(chǎn)品價(jià)格報(bào)價(jià)
濟(jì)南一諾世紀(jì)試驗(yàn)儀器有限公司長(zhǎng)期供應(yīng)沖擊試驗(yàn)機(jī)的配套產(chǎn)品沖擊試樣缺口拉床、沖擊試樣低溫槽、沖擊試樣投影儀等各種試驗(yàn)機(jī)以及試驗(yàn)機(jī)配套產(chǎn)品,如有需要請(qǐng)來(lái)電和我們洽談索取相關(guān)產(chǎn)品價(jià)格報(bào)價(jià)和資料。