SFS10/SFS20 :激光劃片機(jī)
產(chǎn)品特點(diǎn):
具備氪燈泵浦YAG激光劃片機(jī)所有性能優(yōu)點(diǎn)
光束質(zhì)量更好(標(biāo)準(zhǔn)基模)、切縫更細(xì)(30μm)、邊緣更平整光滑
轉(zhuǎn)換效率更高、運(yùn)行成本更低
真正免維護(hù)、不間斷連續(xù)運(yùn)行、無(wú)消耗性易損件更換
設(shè)備體積更?。L(fēng)冷)
技術(shù)參數(shù):
型號(hào)規(guī)格 |
SFS10 |
SFS20 | |
激光波長(zhǎng) |
1.064μm | ||
激光功率 |
10W |
20W | |
激光重復(fù)頻率 |
20KHz~100KHz | ||
劃片線寬 |
≤30μm | ||
最大劃片速度 |
160mm/s |
200mm/s | |
劃片精度 |
±10μm | ||
工作臺(tái)幅面 |
350mm×350mm | ||
工作電源 |
220V/50Hz/1KVA | ||
工作臺(tái) |
雙氣倉(cāng)負(fù)壓吸附,T型臺(tái)雙工作位交替工作 | ||
冷卻方式 |
強(qiáng)迫風(fēng)冷 |
應(yīng)用和市場(chǎng):
太陽(yáng)能行業(yè)單晶硅、多晶硅、非晶硅帶太陽(yáng)能電池片和硅片的劃片(切割、切片)。
SCT-A / SCT-B:太陽(yáng)能電池分選機(jī)
產(chǎn)品特點(diǎn):
l 該設(shè)備專門用于太陽(yáng)能單晶硅和多晶硅單體電池片的分選篩選
l 通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源,對(duì)電池片的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量,根據(jù)測(cè)量結(jié)果將電池片進(jìn)行分類
l 自動(dòng)校正設(shè)置,輸入補(bǔ)償參數(shù),進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償,具備自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能
l 基于Windows的操作界面,測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì),記錄并顯示測(cè)試曲線(I-V曲線、P曲線)和測(cè)試參數(shù)(Voc、Isc、Pm、Im、Vm、FF、EFF),每片測(cè)試的序列號(hào)自動(dòng)生成并保存到指定文件夾。
技術(shù)參數(shù):
型號(hào)規(guī)格 |
SCT-A |
SCT-B |
光譜范圍 |
符合IEC60904-9要求(A級(jí)) | |
輻照強(qiáng)度 |
100mW/ cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2) | |
輻照不均勻度 |
≤±2% |
≤±3% |
輻照不穩(wěn)定度 |
≤±2% |
≤±3% |
測(cè)試結(jié)果一致性 |
≤±0.5% |
≤±1% |
電性能測(cè)試誤差 |
≤±1% |
≤±2% |
單次閃光時(shí)間 |
10ms | |
有效測(cè)試面積 |
200mm×200mm | |
有效測(cè)試范圍 |
0.1W~5W | |
測(cè)量電壓 |
1V(1mV) | |
測(cè)量電流 |
10A(分辨率1mA) | |
測(cè)試參數(shù) |
Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp | |
數(shù)據(jù)采集 |
含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn) |
SMT-A / SMT-B / SMT-F :電池組件測(cè)試儀
主要特點(diǎn):
1. IV性能測(cè)量:短路電流Isc,開路電壓Voc,最大功率Pmax,最大功率電流Ipmax,最大功率電壓Vpmax,填充因子FF和轉(zhuǎn)換效率Eff等;
2. 熱點(diǎn)分析;
3.壽命分析;
4.標(biāo)準(zhǔn)條件測(cè)量;
5.測(cè)量溫度范圍可控;
6.自動(dòng)光照范圍內(nèi)光強(qiáng)均勻性測(cè)量;
儀器介紹
世界最高性能Class AAA級(jí)的大面積穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器及組件測(cè)試方案;穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)能模擬器最大照射面積達(dá)3000mm*3000mm(其他尺寸可定制);適合于各種光電材料、光電器件、太陽(yáng)能電池組件的研究、測(cè)試以及評(píng)價(jià)等;
技術(shù)參數(shù):
型號(hào)規(guī)格:SMT-A SMT-B SMT-F
輻照不均勻度:≤±2%(SMT-A) ≤±3%(SMT-B) ≤±2%(SMT-F)
輻照不穩(wěn)定度:≤±2%(SMT-A) ≤±3%(SMT-B) ≤±2%(SMT-F)
測(cè)試結(jié)果一致性:≤±0.5%(SMT-A) ≤±1%(SMT-B) ≤±0.5%(SMT-F)
電性能測(cè)試誤差:≤±1%(SMT-A) ≤±2%(SMT-B) ≤±1%(SMT-F)
單次閃光時(shí)間:10ms
光譜范圍:符合IEC60904-9要求(A級(jí))
輻照強(qiáng)度:100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)
有效測(cè)試面積:1200mm×2000mm
有效測(cè)試范圍:10W~300W
測(cè)量電壓:1V~10V(分辨率1mV)
測(cè)量電流:100mA~20A(分辨率1mA)
測(cè)試參數(shù):Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp
數(shù)據(jù)采集:含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域:專門用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。
其他相關(guān)設(shè)備:
1. AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器:2inch×2inch,4inch×4inch,6inch×6inch,8inch×8inch,10inch×10inch,12inch×12inch,500mm*500mm,2000mm*1200mm,1800mm*1500mm,1400mm*1100mm,2200mm*1600mm, 3000mm*3000mm等(其他尺寸可定制);
2、AAA級(jí)組件/模組測(cè)試儀;
3. 大面積穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器(AAA級(jí),組件測(cè)試);
聯(lián)系人:陶小姐
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