CGA接頭的由來(lái)以及使用場(chǎng)合？
CGA 是 Compressed Gas Association 的簡(jiǎn)稱，字面的意思為“壓縮氣體協(xié)會(huì)”，
實(shí)際上是指美國(guó)壓縮氣體協(xié)會(huì)，
山東W21.8鋼瓶閥接頭對(duì)照表
但對(duì)于電源模塊的可靠性來(lái)說(shuō)，做完這些還是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的，還有兩個(gè)方面是需要深挖測(cè)試的，那就是高低溫性能和降額設(shè)計(jì)。高低溫性能一般在不同的使用領(lǐng)域，對(duì)電源模塊的工作溫度范圍要求各異：高低溫測(cè)試是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫、高溫兩個(gè)極端氣候環(huán)境條件下的適應(yīng)性和一致性，檢查設(shè)計(jì)余量是否足夠。因?yàn)樵骷奶匦栽诘蜏?、高溫的條件下會(huì)發(fā)生一定的變化，性能參數(shù)具有溫度漂移特性。所以往往很多電源模塊在常溫測(cè)試通過(guò)，一旦拿到高低溫環(huán)境測(cè)試就發(fā)現(xiàn)工作不正?；蛘咝阅軈?shù)明顯下降。
這個(gè)協(xié)會(huì)制定了不同種類的特殊氣體的接頭標(biāo)
準(zhǔn)（特別是針對(duì)鋼瓶閥門的連接接頭），在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中，針對(duì)各種特氣 使用了
不相同的數(shù)字編號(hào)來(lái)區(qū)分接頭，比如660 針對(duì)的是氨氣（Ammonia),在習(xí)慣
上，CGA 660 就是針對(duì)氨氣的接頭。很多人根本不知道（也無(wú)需知道）美國(guó)壓
縮氣體協(xié)會(huì)，就像我不知道壓縮氣體協(xié)會(huì)一樣（你知道有壓縮氣體協(xié)
會(huì)嗎？或者你知道壓縮氣體協(xié)會(huì)制定的某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)嗎？）美國(guó)壓縮氣體協(xié)會(huì)還
在不斷地修改接頭的標(biāo)準(zhǔn)，比如到2002年已經(jīng)出版了標(biāo)準(zhǔn)的第10版。在新的
標(biāo)準(zhǔn)中，有些原有的編號(hào)會(huì)被移去，而新的編號(hào)也會(huì)加進(jìn)來(lái)。特氣接頭使用的
實(shí)際情況比上面說(shuō)的還要更復(fù)雜一些，不同的氣體有可能使用同一個(gè)編號(hào)，比
如，BC13 和 NH3 都可以使用CGA660,而同一種氣體有時(shí)也可以使用不同
編號(hào)的接頭，比如，CGA 705和 CGA 660 都可用于氨氣。這部分原因可能來(lái)
自標(biāo)準(zhǔn)的不斷修改和優(yōu)化，根據(jù)新舊標(biāo)準(zhǔn)制造的接頭可能共同存在于市場(chǎng)上。
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幾乎所有需要進(jìn)行波形顯示的測(cè)量?jī)x器都面臨一個(gè)問(wèn)題：待顯示的波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)不等于屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在這樣的情況下，如何把波形繪制到顯示區(qū)域中去？本文將為你介紹一下解決這一問(wèn)題的幾種方案。種情況：波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)大于屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在不同情況下，使用的抽取方案不同。等間隔抽取等間隔抽取這其實(shí)就是一個(gè)如何把大量波形壓縮到特定點(diǎn)數(shù)的問(wèn)題，針對(duì)這個(gè)問(wèn)題我們很自然就可以想到采用等間隔波形抽取。
CGA閥門標(biāo)準(zhǔn)和適用氣體類型
美國(guó)壓縮氣體協(xié)會(huì)制定了DOT鋼瓶標(biāo)準(zhǔn)和CGA閥門的標(biāo)準(zhǔn)，以利于產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。目前國(guó)內(nèi)從北美進(jìn)口的鋼瓶氣體大多采用CGA標(biāo)準(zhǔn)的閥門，歐洲進(jìn)口氣體則大多采用DIN標(biāo)準(zhǔn)閥門。
CGA 200 C2H2
CGA 320 CO2
CGA 326 N2O
CGA 330 C2H2、N2F4、SiF4、PF5、NF3、HCl、HBr、H2S
CGA 346 Ar
CGA 350 SiH4、H2Se、D2
CGA 510 C2H2
CGA 520 C2H2
CGA 540 O2
CGA 580 O2、N2、Air、Kr、Xe、He、Ne、Ar
CGA 590 SF6、O2
CGA 632 PH3、SiH4
CGA 634 HCl
CGA 638 HF、SF4、WF6
CGA 640 NF3
CGA 642 PH3、SiH4
CGA 660 N2O、C2F6、C2H2ClF3、PH3、SO2
CGA 670 SF4、HF、WF3、O2、N2、Air
CGA 677 N2
CGA 679 F2
CGA 712 N2O
CGA 714 O2
CGA 716 ClF3、C2F6
CGA 718 Kr、Xe、He、Ne、Ar
CGA 722 H2S
CGA 724 H2
CGA 870 O2、N2、Air
CGA 910 O2、N2、Air
CGA 950 O2、N2、Air
CGA 960 N2O
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TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為Testercenter的界面，TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及武器裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)范測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享，IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)，也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。
