邯鄲雷達料位計多種輸出用途
邯鄲高頻雷達料位計發(fā)射能量很低的極短微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。??雷達物位計雷達料位計測量原理及特點：發(fā)射—反射—接受是雷達式柜位計工作的基 本原理。雷達柜位計安裝在柜頂由其天線發(fā)射的信號測量柜位。雷達信號被煤氣柜活塞表面反射雷達物位計蕞大的特點是在惡劣條件下測量 功效顯著。無論是有毒介質(zhì) 還是腐蝕性介質(zhì)也無論是固體、液體還是粉塵性、漿狀介質(zhì)它都可以進行測量。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和準確的測量。即使工況比較復(fù)雜的情況下，存在虛假回波，用微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。很多現(xiàn)場條件下，容器都具有攪拌功能，而攪拌會導(dǎo)致液體波動增大，影響 雷達料位計的測量。針對這一情況，可采取適當降低攪拌器轉(zhuǎn)速、將探頭偏離攪拌中心等措施，以減少由于攪拌器攪拌造成的測量影響。另外，還可采用安裝靜管的方式，有效地消除由于攪拌器攪拌而影響儀表液位測量的因素。
邯鄲雷達料位計喇叭狀探頭，可勝任極端工況下的物位測量。用于液體或固體的非接觸液位變送器 不受電導(dǎo)常數(shù)，溫度，壓力和密度變化影響， 雷達物位計的精度可達±1mm 丈量規(guī)?？蛇_100m ，罐底盯梢(TBF)方法用于丈量低電導(dǎo)常數(shù)，介質(zhì)法蘭溫度可達250°C 介質(zhì)溫度-60°C—600°C 壓力可達64bar，雷達物位計適用于酸堿儲罐、漿料儲罐、固體顆粒、小型儲油罐。
過程連接：1?" 螺紋, 卡箍連接或法蘭
溫度范圍：-196 至 +450°C (-321 至 + 842°F)
壓力范圍： -1 至 +160bar (-14.5 至 +2,320psi)
測量范圍：40m (131ft), 高級動態(tài)響應(yīng)70m (230ft)
精度誤差：±2mm
K波段：26GHz或者80GHz
雷達料位計是現(xiàn)在十分流行的檢測儀表，不受環(huán)境攪擾，能夠更地檢測出成果，可靠性強， 安全性高，優(yōu)勢是十分明顯的，即使是惡劣環(huán)境下，也能夠丈量。不管是腐蝕性介質(zhì)，或是有毒介質(zhì)，也不管是固體、液體、或是粉塵性、漿狀介質(zhì)，它都能夠進行丈量，且不會對成果造成影響。
測量固體物料時，根據(jù)儲罐中心位置調(diào)節(jié)萬向節(jié)。之所以這樣做，主要是因為固體儲罐進料口一般都在中間，為了保障回波幅度更強，測量更穩(wěn)定準確，選擇通過調(diào)節(jié)萬向節(jié)解決。這一點要做好，安裝時，雷達天線需要伸入儲罐內(nèi)部且天線末端伸入罐內(nèi)的距離應(yīng)大于100mm，保證萬向節(jié)的調(diào)整范圍。
測量的基準面是：螺紋底面或法蘭的密封面增加吹掃功能。吹掃的作用就是能隔離粘稠體，揮發(fā)，結(jié)晶、蒸氣等臟物，以保證儀表測量不受贓物的影響，限度的確保儀表的準確性，例如，通過氮氣或者壓縮空氣進行吹掃。通過調(diào)試功能屏蔽因少量凝結(jié)產(chǎn)生的虛假回波。特殊結(jié)構(gòu)的天線可以減少介質(zhì)的凝結(jié)，但不能完全隔絕。對于因少量凝結(jié)產(chǎn)生的虛假回波，我們可以通過調(diào)試來屏蔽掉。對天線進行定期維護。少量凝結(jié)不影響雷達物位計的測量，但時間長了，少量凝結(jié)就會日益增加，增加到一定的程度，雷達物位計測量的準確性會受到影響。鑒于這種情況，雷達物位計的天線要做好定期維護和清理。
天線尺寸小，便于安裝；非接觸雷達，無磨損，無污染。幾乎不受腐蝕、泡沫影響；幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。嚴重粉塵環(huán)境對高頻物位計工作影響不大。波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射。測量固體物料時，非接觸雷達物位計(雷達料位計)一定要遠離進料口。一般情況下，安裝口的選擇要距進料口有兩米以上的距離，這是的位置。如果條件不允許，近的安裝口也要距離進料口一米以上。波束角小，能量集中，增強了回波能力的同時又有利于避開干擾物。測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得良好的效果。高信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。 雷達料位計是一種非接觸式液位測量儀器，因其安裝和維修簡單，測量準確可靠，在鋼鐵、石化、水處理、水利等行業(yè)中，廣泛用于各種容器液位的測量，也可用于水渠、水池、水庫、江河湖海等水位的測量。在液位控制器中，作為精密儀器， 雷達料位計受應(yīng)用環(huán)境的影響很大。高頻率，是測量固體和低介電常數(shù)介質(zhì)的選擇。
