一、磁感應測量原理介紹
林上LS221便攜式測厚儀（https://www.linshangtech.cn/tech/tech1367.html）就是采用磁性測厚法與渦流測厚法的原理制成的儀器。采用磁感應原理時，利用從測頭通過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也能夠測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻 越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上能夠有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層資料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器主動輸出測試電流或測試信號。
林上LS221便攜式測厚儀參數(shù)：
測量原理 Fe：霍爾效應/NFe：電渦流效應
探頭類型 外置連線式
測量范圍 0.0-2000μm
分辨率 0.1μm：(0μm-99.9μm)
1μm：(100μm-999μm)
0.01mm：(1.00mm-2.00mm)
測量精度 ≤±(3%讀數(shù)+2μm)
單位 μm / mil
測量間隔 0.5s
測量區(qū)域 ? = 25mm
曲率半徑 凸面：5mm 凹面：25mm
基體厚度 Fe：0.2mm/NFe：0.05mm
顯示 128×48點陣LCD
供電方式 2節(jié) 1.5V AAA堿性電池
工作溫度范圍 0℃ ～ 50℃
存儲溫度范圍 -20℃～60℃
主機尺寸 101*62*28 mm
探頭尺寸 71*26*22 mm
重量(含電池) 114g
二、電渦流測量原理介紹
高頻溝通信號在測頭線圈中發(fā)生電磁場，測頭接近導體時，就在其間構成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。
與磁感應原理比較，首要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度聯(lián)系不同。與磁感應測厚儀相同，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，容許過失1%，量程10mm的高水平。還有的便攜式測厚儀采用的是超聲波測厚的原理，不過這種測量原理的儀器測量精度不高。
