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KIS產(chǎn)品簡介
針對平板產(chǎn)品背面缺陷檢測設(shè)計，適用于內(nèi)檢測時的裝配不良和外檢測時的后蓋不良檢測。特點(diǎn)是兩段式傳送結(jié)構(gòu)，中間保留一段空隙用于相機(jī)自下而上采集流過的產(chǎn)品背面圖像，進(jìn)而在運(yùn)動中完成 檢測。此產(chǎn)品的機(jī)構(gòu)特點(diǎn)是尺寸較小，設(shè)置靈活，便于在產(chǎn)線或獨(dú)立的質(zhì)檢室安裝應(yīng)用。
功能簡介
1、內(nèi)檢測時裝配不良，如螺釘漏打、打歪、錯打，連接器破損、未閉合等；
2、外檢測時后蓋外觀不良，如外殼劃痕、污漬、絲印不良等；
實(shí)現(xiàn)方案
1、基于傳送帶運(yùn)輸，C1、C2段皮帶各為300mm，進(jìn)行背面檢測；
2、加寬皮帶寬度至200mm，C1段寬度可以調(diào)節(jié)，以適合多種尺寸的產(chǎn)品；
3、背面檢測使用5M像素相機(jī)配專用平面檢測光源，確保圖像均勻清晰；
4、專用的檢測算法進(jìn)行背面裝配不良檢測。