MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-全球最新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，世界領(lǐng)先的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)世界頂尖技術(shù)生產(chǎn)。
SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您精確的涂層厚度值。此項(xiàng)尖端的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理無可比擬的信號(hào)質(zhì)量
和精確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP探頭具有極高的抗干擾性
任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒問題，加長(zhǎng)的電纜線同樣具有極強(qiáng)的抗干擾能力。
SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)秀性能。
高精確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測(cè)量錯(cuò)誤降至最低。
SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生！
SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開啟快速測(cè)量模式，探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量，SIDSP都能完成您的選擇！
SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。
SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級(jí)，使您的SIDSP探頭總是最新版本。
MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強(qiáng)了EPK在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位.
有了新的SIDSP F型探頭（測(cè)量鐵基體）和N型探頭（測(cè)量非鐵基體），您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長(zhǎng)期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
MINITEST 700可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值；
也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡(jiǎn)單方便
MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)全球銷售需要，MINITEST 700滿足各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置：
帶塑料手提箱，內(nèi)含：
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
-2節(jié)AA電池
推薦配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架
技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭
探頭特性 |
F1.5，N0.7，FN1.5 |
F2 |
F5，N2.5，FN5 |
F15 |
||
F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
測(cè)量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
使用范圍 |
小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 |
厚涂層 |
||
測(cè)量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 |
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP） |
|||||
精確度 |
±（1μm+0.75%讀值） |
±（1.5μm+0.75%讀值） |
±（5μm+0.75%讀值） |
|||
重復(fù)性 |
±（0.5μm+0.5%讀值） |
±（0.8μm+0.5%讀值） |
±（2.5μm+0.5%讀值） |
|||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
|||
最小曲率半徑（凸） |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
|||
最小曲率半徑（凹，外置探頭） |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） |
30mm |
30mm |
30mm |
|||
最小測(cè)量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
|||
最小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 |
每秒20個(gè)讀數(shù) |
|||||
單值模式下最大測(cè)量速度 |
每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
|||||
主機(jī)
|
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 |
最多10,000個(gè) |
最多10,000個(gè) |
最多100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 |
讀值個(gè)數(shù)，最小值，最大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） |
||
校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 |
ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
||
校準(zhǔn)模式 |
出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
||
極限值監(jiān)控 |
聲、光報(bào)警提示超過極限 |
||
測(cè)量單位 |
um，mm，cm；mils，inch，thou |
||
操作溫度 |
-10℃-60℃ |
||
存放溫度 |
-20℃-70℃ |
||
數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0（紅外接口） |
||
電源 |
2節(jié)AA電池 |
||
標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 |
||
體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
||
重量 |
約175g |
約210g |
約175g（內(nèi)置）/230g（外置） |
