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產品簡介
SEIKO測厚儀校正片
SEIKO測厚儀校正片
產品價格:¥6000
上架日期:2012-09-06 14:45:38
產地:USA
發(fā)貨地:中國深圳
供應數量:不限
最少起訂:1片
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詳細說明

    X射線測厚儀標準校正片,建檔標準片,校正標準片,X射線標準校正,美國Calmetrics膜厚儀標準片Calibration Standard X射線測厚儀標準片 鍍層標準片膜厚片 測厚儀標準片 其專門為儀器大廠如Fischer、OxfordCMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產制作標準樣品。 適用于FischerOxford、CMIThermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-rayX射線測厚儀)、 β-rayβ射線測厚儀)、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。特色:標準片A2LA校正認證,質量精良,精度高、穩(wěn)定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。 X射線測厚儀標準片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如:單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學鍍層:Ni-P/xx。(所有標準片都附有NIST證書) 我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值NIST證書.

     

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