使用高分辨率相機和高精度XY載物臺的二維檢查設(shè)備。
適用于檢查光學膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。
光學分辨率為“ 1.8μm”，可以進行超高清檢查。
它也可以用于尺寸測量，并且可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。
用于檢查觸摸屏和異物等缺陷！
| 外形尺寸 | 1000 x 1200 x 1080毫米 |
|---|---|
| 重量 | 400公斤 |
| 測量范圍 | 600 x 400毫米 |
| 被測物體的高度 | 30毫米 |
| 光學分辨率 | 1.8微米 |
| 控制分辨率 | 1.0微米 |
| 重復(fù)定位精度 | ±5微米 |
| 光學倍率 | 2次 |
| 視場 | 6.3毫米x 5.0毫米 |
| 監(jiān)視器 |
TFT 23.6型寬 分辨率：1920 x 1080像素 |
| 相機 |
CCD單色1英寸 像素數(shù)：900萬像素 |
| 鏡片 |
遠心鏡頭 WD：65毫米 景深0.095毫米 |
| 照明 | 同軸落射照明 |
| 電源 | AC100V 50/60赫茲 |
| 開發(fā)語言 | LabVIEW |
