CMI760 — PCB&銅箔表面產(chǎn)品說(shuō)明
一、牛津儀器測(cè)厚儀器CMI760專(zhuān)為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
同時(shí)CMI760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
二、CMI760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
SRP-4探頭：SRP系列探頭應(yīng)用先進(jìn)的微電阻測(cè)試技術(shù)。
測(cè)量時(shí)，通過(guò)厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響，可由用戶自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器專(zhuān)利產(chǎn)品，損耗的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便的更換，將停機(jī)時(shí)間縮值最短，更滑探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭更為經(jīng)濟(jì)。CMI760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另外，系繩式的SRP-4探頭采用結(jié)實(shí)耐用的連接線和更小的測(cè)量覆蓋區(qū)令使用更為方便。
三、測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
篤摯儀器公司：
篤摯儀器（上海）有限公司，一個(gè)在儀器儀表行業(yè)擁有豐富經(jīng)驗(yàn)的公司。我們把世界最優(yōu)秀的儀器儀表設(shè)備介紹到中國(guó)，把最專(zhuān)業(yè)的服務(wù)提供給用戶。我們是致力于儀器儀表行業(yè)的專(zhuān)家，能滿足全方位客戶的要求。
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1、為機(jī)械加工、先進(jìn)制造、新材料應(yīng)用、科學(xué)研究等前沿行業(yè)領(lǐng)域提供最新的測(cè)試設(shè)備、最新的檢測(cè)技術(shù)；
2、為客戶在產(chǎn)品質(zhì)量控制和提高可靠性方面提供最有效的解決方案和技術(shù)服務(wù)；
3、為客戶提供車(chē)間現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室所需的各類(lèi)檢測(cè)儀器，并提供技術(shù)支持、保養(yǎng)和維修服務(wù)。
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