公司名稱(chēng)：深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）
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TEM測(cè)試介紹
TEM測(cè)試原理
透射電子顯微鏡（縮寫(xiě)TEM），簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品
上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角 散射。散射角的大小與樣品的密度、
厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。
TEM測(cè)試方法
用于材料的超微結(jié)構(gòu)觀察及成分分析，檢出限：0.5%
產(chǎn)品范圍 0
1.金屬、非金屬及復(fù)合材料的觀察分析；
2.納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測(cè)量統(tǒng)計(jì)；
3.微區(qū)成分的定性、定量計(jì)算，并對(duì)重點(diǎn)區(qū)域做元素分布圖；
4.可對(duì)固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行結(jié)合情況觀察和厚度測(cè)量；
5.機(jī)械設(shè)備、壓力容器、管道及汽車(chē)零件的失效分析。
我們STT嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。
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