電容型號(hào)：0603
電容容量：0.1pF~100uF
電容耐壓：6.3V~3KV
電容偏差：J=±5% K=±10% M=±20%
電容材質(zhì):NPO(COG) X7R X5R Y5V Z5U
產(chǎn)品規(guī)格：長（L）1.60mm*寬（W）0.80mm
產(chǎn)品高度：T=0.80mm
生產(chǎn)廠家：東莞市偉圣電子有限公司
工作溫度范圍：-55℃~+125℃
使用壽命：2000H
損失角正切：Max-2.5%
損失角正切測(cè)定頻率：Nom-1KHZ
損失角正切測(cè)定電壓：Nom-1.0±0.2Vrms
貼片電容的容量換算：
貼片電容單位換算并不是很復(fù)雜，主要有皮法、納法、微法等，換算公式如下：
1uf=1000nf=1000000pf
在習(xí)慣上我們一般擁三位數(shù)字去表示容值，如104=10*10000=100000pf=100nf=0.1u
1F(法拉)=1000mF(毫法)，1mF(毫法)=1000uF(微法)，1uF(微法)=1000nF(納法)，1nF(納法)=1000pF(皮法)。
單位省略表示為pF，例如：
101(pF)=10*10^1=100pF=0.1nF；
102(pF)=10*10^2=1000pF=1NF=0.001uF；
103(pF)=10*10^3=10000pF=10NF=0.01uF；
104(pF)=10*10^4=100000pF=100NF=0.1uF；
105(pF)=10*10^5=1000000pF=1uF；
106(pF)=10*10^6=10uF；
107(pF)=10*10^7=100UF。
貼片電容其主要作用是為了清除由芯片自身產(chǎn)生的各種高頻信號(hào)對(duì)其他芯片的串?dāng)_，從而讓各個(gè)芯片模塊能夠不承受干擾而正常工作。在高頻電子的振蕩線路中，貼片式電容與晶體振蕩器等元件一起組成振蕩電路，給各種電路提供所需的時(shí)鐘頻率。
貼片式電容有著貼片式陶瓷電容、貼片式鉭電容、貼片式鋁電解電容。貼片式陶瓷電容無極性，容量也很?。?/span>PF級(jí)），一般可以耐很高的溫度和電壓，常用于高頻濾波。陶瓷電容看起來有點(diǎn)像貼片電阻（因此有時(shí)候我們也稱之為“貼片電容”），但貼片電容上沒有印有代表容量大小的數(shù)字。
貼片式鉭電容的特點(diǎn)是壽命長、耐高溫、準(zhǔn)確度高、濾高頻改波性能極好，不過容量較小、價(jià)格也比鋁電容貴，而且耐電壓及電流能力相對(duì)較弱。它被應(yīng)用于小容量的低頻濾波電路中。
貼片鉭電容與陶瓷電容相比，其表面均有電容容量和耐壓標(biāo)識(shí)，其表面顏色通常有黃色和黑色兩種。譬如100-16即表示容量100μF，耐壓16V。
貼片式鋁電解電容擁有比貼片式鉭電容更大的容量，其多見于顯卡上，容量在300μF~1500μF之間，其主要是滿足電流低頻的濾波和穩(wěn)壓作用。
1、測(cè)試條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
首先考慮測(cè)量條件的問題，對(duì)于不同容值的貼片電容會(huì)采用不同的測(cè)試條件來測(cè)量容值，主要在測(cè)試電壓的設(shè)定和測(cè)試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，下表所示為不同容值的量測(cè)條件:
電容
AC 電壓
頻率
容量>10μF
1.0± 0.2Vrms
120Hz
1000pF<容量≦10μF
1.0± 0.2Vrms
1kHz
容量≦ 1000pF
1.0± 0.2Vrms
1MHz
2、測(cè)量儀器的差異對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
大容量的電容（通常指1UF以上）測(cè)量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測(cè)試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y(cè)試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測(cè)量結(jié)果誤差降到最低,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測(cè)的電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際于待測(cè)電容上輸?shù)某鲭妷阂恢隆?/span>
注意： 上表中所示的電壓是指實(shí)際加在測(cè)試電容兩端的有效電壓（理想電壓）。
由于測(cè)試儀器的原因，加在電容兩端實(shí)際的輸出電壓與設(shè)定的測(cè)量電壓(理想電壓）實(shí)際上可能會(huì)有所出入。
3、影響高容量電容容值測(cè)量偏低的因素
（1） 測(cè)試儀器內(nèi)部的阻抗之大小影響.
由于不同的測(cè)試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測(cè)試電容兩端的實(shí)際電壓變小。在實(shí)際的測(cè)試過程中，我們有必要先使用萬用表等工具測(cè)試夾具兩端的實(shí)際電壓，以確定加在測(cè)試貼片電容兩端的輸出電壓。
