電容器的絕緣電阻是一項(xiàng)重要的參數(shù)，衡量著工作中片狀電容漏電流大小。漏電流大，片狀電容儲(chǔ)存不了電量，片狀電容兩端電壓下降。往往由于漏電流大導(dǎo)致了片狀電容失效，引發(fā)了對片狀電容可靠性問題的爭論。
可靠性問題：片狀電容失效分為三個(gè)階段。
第一階段是片狀電容生產(chǎn)、使用過程的失效，這一階段片狀電容失效與制造和加工工藝有關(guān)。片狀電容制造過程中，第一道工序陶瓷粉料、有機(jī)黏合劑和溶劑混合配料時(shí)，有機(jī)黏合劑的選型和在瓷漿中的比例決定了瓷漿干燥后瓷膜的收縮率；第三道工序絲印時(shí)內(nèi)電極金屬層也較關(guān)鍵，否則易產(chǎn)生強(qiáng)的收縮應(yīng)力，燒結(jié)是形成瓷體和產(chǎn)生片狀電容電性能的決定性工序，燒結(jié)不良可以直接影響到電性能，且內(nèi)電極金屬層與陶瓷介質(zhì)燒結(jié)時(shí)收縮不一致導(dǎo)致瓷體內(nèi)部產(chǎn)生了微裂紋，這些微裂紋對一般電性能不會(huì)產(chǎn)生影響，但影響產(chǎn)品的可靠性。主要的失效模式表現(xiàn)為片狀電容絕緣電阻下降，漏電。
防范、杜絕微裂紋的產(chǎn)生：從原材料選配、瓷漿制備、絲網(wǎng)印刷和高溫?zé)Y(jié)四方面優(yōu)選工藝參數(shù)，以達(dá)到片狀電容內(nèi)部結(jié)構(gòu)合理，電性能穩(wěn)定，可靠性好。
第二階段是片狀電容長時(shí)間工作出現(xiàn)失效現(xiàn)象，這一階段片狀電容失效往往由于老化、磨損和疲勞等原因使元件性能惡化所致。電子整機(jī)到消費(fèi)者手中出現(xiàn)整機(jī)功能障礙，追溯原因，發(fā)現(xiàn)片狀電容漏電流大，失效。一般此類問題源自于第一階段或第二階段片狀電容可靠性隱患的最終暴露，該階段出現(xiàn)的質(zhì)量比前兩個(gè)階段嚴(yán)重得多。由于整機(jī)在消費(fèi)者使用過程中涉及到的條件，整機(jī)生產(chǎn)廠家和元器件廠家大多都模擬試驗(yàn)過，所以片狀電容在整機(jī)出廠前，應(yīng)符合電子路線的要求，但整機(jī)因片狀電容使用一段時(shí)間出現(xiàn)質(zhì)量問題，則要認(rèn)證研究片狀電容生產(chǎn)或加工過程中的質(zhì)量隱患。應(yīng)更換片狀電容以保證電子整機(jī)設(shè)備的正常工作。
片狀電容出現(xiàn)質(zhì)量問題，特別是涉及到可靠性問題的質(zhì)量問題，是一個(gè)復(fù)雜的過程。它的表現(xiàn)形式主要是瓷體斷裂、微裂或絕緣電阻下降‘漏電流增大居多，出現(xiàn)片狀電容可靠性失效的質(zhì)量問題，應(yīng)從大角度、全方位、分階段分析、研究該問題。
所選電容需要的不僅僅是品牌的選擇，更是要注重其質(zhì)量。質(zhì)量決定著使用壽命的長短，電容器質(zhì)量是不容小覷的焦點(diǎn)。隨著三星電容在市場上的知名度以及口碑，因此青睞這一品牌的廠家也逐漸增多、但是究竟三星電容質(zhì)量如何判斷更為精準(zhǔn)呢？
三星電容的品質(zhì)該如何判斷呢
首先可以采用萬用表法檢測、這種方法適用于無極性電容器絕緣電阻的測量。測量時(shí)將萬用表電阻擋置于10kΩ 擋、將兩只表筆分別接電容器的兩個(gè)引腳、對于一般小電容量的電容器，此時(shí)測得的電阻值應(yīng)為無窮大或接近無窮大;對于容量較大的電容器，萬用表指針會(huì)先沿順時(shí)針方向擺動(dòng)一下、然后會(huì)很快指向無窮大。如果測得的電阻值小于1MΩ、說明電容器漏電嚴(yán)重或介質(zhì)有損壞現(xiàn)象、電容器不能使用。測試時(shí)注意不要用手拿電容器的兩個(gè)引線，否則人體電阻將會(huì)對測試結(jié)果帶來影響。
三星電容質(zhì)量如何判斷更精準(zhǔn)呢？不妨可以通過耳機(jī)法來檢測。這種方法只適用于對電容量較大電容器的絕緣電阻的判斷、可以用一副耳機(jī)和一節(jié)1.5V干電池組成簡易測試電路。測試時(shí)耳機(jī)與電容器斷續(xù)相碰時(shí)，電池向電容器充電，耳機(jī)會(huì)發(fā)出"喀喀"聲響。若多碰幾次電容器被充滿電就昕不到"喀喀"聲了，說明電容器漏電流很小、絕緣電阻正常。若每相碰一次，耳機(jī)都發(fā)出很響的"喀喀"聲，說明電容器漏電大，絕緣電阻不正常。如果第一次相碰時(shí)就無聲響，并一直無聲響，說明電容器己斷路不能使用。
三星電容質(zhì)量如何判斷較為精準(zhǔn)大家是否了解了呢？不同的檢測方法所能達(dá)到的檢測目的是相同的。當(dāng)然不僅僅如此還有很多較好的測量方法，這些都是檢測電容質(zhì)量以及好壞的關(guān)鍵所在。
