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1.電容的失效模式和失效機理（一）
電容器的常見失效模式有：擊穿短路；致命失效 ――開路；致命失效  ――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等． 
失效模式的失效機理 
一，引起電容器擊穿的主要失效機理 
①電介質(zhì)材料有疵點或缺陷，或含有導電雜質(zhì)或?qū)щ娏Ｗ樱?②電介質(zhì)的電老化與熱老化； ③電介質(zhì)內(nèi)部的電化學反應(yīng)； ④銀離子遷移；  ⑤電介質(zhì)在電容器制造過程中受到機械損傷； ⑥電介質(zhì)分子結(jié)構(gòu)改變；  ⑦在高濕度或低氣壓環(huán)境中極間飛弧；   ⑧在機械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時短路。
二，引起電容器開路的主要失效機理  
①引線部位發(fā)生“自愈“，使電極與引出線絕緣； ②引出線與電極接觸表面氧化，造成低電平開路； ③引出線與電極接觸不良； ④電解電容器陽極引出箔腐蝕斷裂； ⑤液體電解質(zhì)干涸或凍結(jié)； ⑥機械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時開路。
三，引起電容器電參數(shù)惡化的主要失效機理
 ①受潮或表面污染； ②銀離子遷移； ③自愈效應(yīng)；  ④電介質(zhì)電老化與熱老化； ⑤工作電解液揮發(fā)和變稠； ⑥電極腐蝕；  ⑦濕式電解電容器中電介質(zhì)腐蝕； ⑧雜質(zhì)與有害離子的作用； ⑨引出線和電極的接觸電阻增大。
同一失效模式有多種失效機理，同一失效機理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機理之間的關(guān)系不是一一對應(yīng)的。
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