38DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精確的壁厚測量。
38DL PLUS測厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中最常使用的是雙晶探頭。
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測量 |
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雙晶探頭測量模式 |
從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到第一個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
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自動(dòng)回波到回波（可選） |
在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。 |
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穿透涂層測量 （可選） |
利用單個(gè)底面回波，測量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
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單晶探頭測量模式（可選） |
模式1：激勵(lì)脈沖與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 |
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厚度范圍 |
0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量全的范圍需要使用單晶選項(xiàng)） |
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材料聲速范圍 |
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
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分辨率（可選擇） |
低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
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探頭頻率范圍
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標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
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