產(chǎn)品參數(shù) | |||
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品牌 | HMILU | ||
包裝 | 盒裝 | ||
零件狀態(tài) | 在售 | ||
安裝類型 | 卡入式 | ||
特性 | 芯片老化測試 | ||
材料 | PEEK BeCu AL | ||
顏色分類 | 下單請確認(rèn)最新價格 | ||
適用場景 | 老化,測試 | ||
產(chǎn)地 | 中國大陸 | ||
封裝方式 | QFN/CLCC | ||
引腳間距 | 0.5mm | ||
測試座類型 | 翻蓋式探針座 | ||
總尺寸 (含引腳) | 20x20x1mm | ||
引腳數(shù) | 24個 | ||
數(shù)量 | 1 | ||
封裝 | CLCC | ||
批號 | 以出貨為準(zhǔn) | ||
可售賣地 | 全國 | ||
用途 | EEPROM老化測試 | ||
型號 | CLCC24翻蓋探針多工位測試座 |