| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 是否支持加工定制 | 否 | ||
| 是否進(jìn)口 | 否 | ||
| 波長(zhǎng)范圍 | LD-518 | ||
| 尺寸 | 600×500×400cm | ||
| 規(guī)格 | SLP-2000mm | ||
| 精度 | 1mpa | ||
| 類(lèi)型 | 激光 | ||
| 適用范圍 | 微晶玻璃內(nèi)應(yīng)力層深度測(cè)試儀 | ||
| 型號(hào) | SLP-2000 | ||
| 重量 | 1600kg | ||
| 產(chǎn)品特性 | 微晶應(yīng)力儀 | ||
| 產(chǎn)地 | 日本 | ||
| 品牌 | 田野儀器 | ||
供應(yīng)微晶應(yīng)力儀 SLP-2000微晶玻璃內(nèi)應(yīng)力層深度測(cè)試儀 全自動(dòng)檢測(cè)（含電腦）
全自動(dòng)微晶玻璃應(yīng)力測(cè)試儀、SLP-2000鈉離子應(yīng)力層檢測(cè)儀器***（含培訓(xùn)）、 日本折原二次強(qiáng)化鈉離子玻璃應(yīng)力值測(cè)試儀，該款***針對(duì)二強(qiáng)玻璃,微晶玻璃,鋰鋁硅玻璃等行業(yè)用戶(hù)研發(fā)的新品,不僅繼承了日本折原玻璃蓋板應(yīng)力儀產(chǎn)品一直以來(lái)穩(wěn)定可...
SLP-2000散亂光應(yīng)力測(cè)試儀為一款微晶玻璃內(nèi)應(yīng)力層深度測(cè)試儀，用于測(cè)量化學(xué)強(qiáng)化和物理強(qiáng)化微晶玻璃內(nèi)應(yīng)力。該儀器采用無(wú)損檢測(cè)方式，使用操作方便，既縮短了測(cè)量所需時(shí)間，又對(duì)玻璃生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行及時(shí)監(jiān)控，能很好的分析化學(xué)鋼化玻璃的內(nèi)應(yīng)力分布情況，進(jìn)而判斷產(chǎn)品的鋼化程度。
【儀器特點(diǎn)】
1.具有其他型號(hào)沒(méi)有的較好的測(cè)量方法(激光束光彈性分析原理)。
2.自動(dòng)測(cè)量，因測(cè)試者造成的個(gè)人誤差小。
3.能夠用電腦保存數(shù)據(jù)，便于品質(zhì)管理。
4.相位圖與應(yīng)力的映射關(guān)系算法可設(shè)計(jì)。
5.使用LED光源，使用壽命長(zhǎng)，達(dá)到10,000小時(shí) (以前500小時(shí))。
6.使用了玻璃校準(zhǔn)片因此可將機(jī)器誤差控制到較小。
7. .能夠用電腦自動(dòng)保存數(shù)據(jù)，便于品質(zhì)管理。
8.實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)量的同時(shí)并根據(jù)設(shè)置區(qū)間自動(dòng)判斷合格/不合格。
9、在連續(xù)測(cè)量時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)保存測(cè)量的數(shù)據(jù)，并累計(jì)測(cè)量數(shù)目（合格數(shù)目/不合格數(shù)目）。
10、除了連續(xù)測(cè)量，也可以自由選擇單次測(cè)量、手動(dòng)測(cè)量等測(cè)量方式。
【技術(shù)參數(shù)】
1. 測(cè)定對(duì)象 ：化學(xué)強(qiáng)化玻璃、化學(xué)2次強(qiáng)化玻璃、 物理強(qiáng)化玻璃
2. 測(cè)定形狀 ：平面-1000R 10*10mm以上
3. 測(cè)定范圍 ：應(yīng)力值0-2000Mpa、 應(yīng)力層高層度10-600μm
4. 測(cè)定分辨能力：應(yīng)力 5Mpa 高層度5μm
5. 測(cè)定精度 ：從表面算起50μm之后 應(yīng)力值±10MPa高層度±10μm（以標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn)）
6. 光源 ：LD 520nm 30mW Glass3B 棱鏡：S-LAL-10 ND=1.72
7. PC：***（Windows 10、測(cè)量軟件已安裝）
8. 電源：AC220V±5V 高等
9. 尺寸：300×600×200mm
10. 重量：約 16kg
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