.jpg "半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)芯片自動(dòng)化測(cè)試軟件可定制測(cè)試方案ATECLOUD-IC")
| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 納米軟件 | ||
| 加工定制 | 是 | ||
| 支持系統(tǒng) | 可支持所有系統(tǒng) | ||
| 規(guī)格 | 可按需定制 | ||
| 測(cè)試場(chǎng)景 | 研發(fā)測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試、老化測(cè)試、一測(cè)二測(cè)等 | ||
| 售后服務(wù) | 24小時(shí)售后 | ||
| 被測(cè)項(xiàng)目 | 23項(xiàng)被測(cè)項(xiàng)目，可擴(kuò)展 | ||
| 看板 | 可視化生產(chǎn)管理看板功能 | ||
| 運(yùn)行方式 | 支持多種平臺(tái)運(yùn)行 | ||
| 測(cè)試系統(tǒng) | B/S架構(gòu)，無(wú)需下載安裝 | ||
| 批量測(cè)試 | 支持 | ||
| 測(cè)試工位 | 靈活擴(kuò)展，同步測(cè)試 | ||
| 接口 | 232/LAN/USB/GPIB/485 | ||
| 可售賣地 | 全國(guó) | ||
| 用途 | 芯片半導(dǎo)體器件自動(dòng)化測(cè)試 | ||
| 型號(hào) | 可兼容所有儀器型號(hào) | ||
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