產(chǎn)品參數(shù) | |||
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是否支持加工定制 | 否 | ||
是否進(jìn)口 | 否 | ||
波長(zhǎng)范圍 | LD-518波段 | ||
尺寸 | 600*500*600cm | ||
規(guī)格 | SLP-2000mm | ||
精確度 | ±5Mpa | ||
類型 | 雙折射 | ||
適用范圍 | 二強(qiáng)玻璃應(yīng)力儀微晶玻璃應(yīng)力檢測(cè) | ||
型號(hào) | SLP-2000 | ||
重量 | 16kgkg | ||
產(chǎn)品特性 | 二強(qiáng)應(yīng)力儀 | ||
產(chǎn)地 | 日本 | ||
加工定制 | 否 | ||
品牌 | 田野儀器 |
SLP-2000散亂光應(yīng)力儀技術(shù)方案
一?·產(chǎn)品介紹
全自動(dòng)散亂光應(yīng)力儀這款***針對(duì)二強(qiáng)玻璃,微晶玻璃,鋰鋁硅玻璃等行 業(yè)用戶研發(fā)的新品,是利用雙折射來改變極化激光束的延遲,并且散亂光的強(qiáng)度 隨著激光束的延遲的變化而改變,通過偏振光光路上因激光束的延遲而出現(xiàn)的 光程差和偏振特性來計(jì)算表面壓應(yīng)力和壓應(yīng)力層厚度。
全自動(dòng)散亂光應(yīng)力儀為用于測(cè)量化學(xué)強(qiáng)化和物理強(qiáng)化玻璃的內(nèi)應(yīng)力。特點(diǎn) 在于采用無損檢測(cè)方式,使用操作方便,既縮短了測(cè)量所需時(shí)間,又對(duì)玻璃生 產(chǎn)過程進(jìn)行及時(shí)監(jiān)控,能很好的分析化學(xué)鋼化玻璃的內(nèi)應(yīng)力分布情況,進(jìn)而判 斷產(chǎn)品的鋼化程度。
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二?·產(chǎn)品相關(guān)技術(shù)參數(shù)要求:
1. ?測(cè)定對(duì)象 :化學(xué)強(qiáng)化玻璃、化學(xué) 2 次強(qiáng)化玻璃、微晶玻璃、鋰鋁硅玻璃等
2. ?測(cè)定形狀 :平面- 1000R 10*10mm 以上
3. ?測(cè)定范圍 :應(yīng)力值 0-2000Mpa 、 ?應(yīng)力層高層度 10-600 μm
4. ?測(cè)定分辨能力:應(yīng)力 5Mpa ?高層度 5 μm
5. ?測(cè)定精度 :從表面算起 50μm 之后 應(yīng)力值±10MPa?高層度±10 μm??(以標(biāo)?準(zhǔn)片為基準(zhǔn))
6. ?光源 :LD?518nm 30mW Glass3B ?棱鏡: S-LAL- 10 ND=1.518
7.?PC:***(Windows?10、測(cè)量軟件已安裝)
8.??電源: AC220V±5V ?高等
9. ?尺寸: 300×600×200mm
10. ?重量:約 16kg
三?·產(chǎn)品其他配置要求
1. DELL 主機(jī);
2. CPU:inter core i3及以上;
3. ?系統(tǒng)及軟件;
4. Windows 10 professional?edition?64bit;
5. SLP 分析、計(jì)算軟件;
6. PMC 擬合軟件;????????????????????????????????????????????
?7.包含主板、視頻/音頻、網(wǎng)卡、顯示器、操作系統(tǒng)、鍵盤、鼠標(biāo)等配件。
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四?·產(chǎn)品其他類要求
1. 電腦自動(dòng)保存數(shù)據(jù),輸出 excel 文檔。
2. 至少使用 518nm,及其以下的光源,使用壽命長(zhǎng),達(dá)到 10,000 小時(shí) ?。
3. 配備玻璃校準(zhǔn)片 可將機(jī)器 CS-50、DOL-0、CT-CV 等參數(shù)誤差控制到***小, ?同一樣品測(cè) 試 9 次,極差 CS-50<15MPa、DOL-0<5μm、CT-CV<5MPa、CT-LD 小于2000MPa/mm、
4 . 除了連續(xù)測(cè)量,也可以自由選擇單次測(cè)量、手動(dòng)測(cè)量等測(cè)量方式。
5 . 測(cè)定精度:從表面算起50μm之后應(yīng)力值±10MPa深度±10μm(以標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn))
6 . 有詳細(xì)的儀器操作指導(dǎo)書,包括測(cè)試樣品、調(diào)整測(cè)試偏差,解決儀器日常 BUG,有技術(shù)人員直接聯(lián)系對(duì)接
7 . 針對(duì)不同類型樣品,軟件可以單獨(dú)進(jìn)行分案并且進(jìn)行參數(shù)匹配。當(dāng)測(cè)該類型樣品時(shí),直接 打開該分案即可,不用再頻繁調(diào)試參數(shù)。
8. ?滿足我方高結(jié)晶度樣品測(cè)試,不會(huì)因?yàn)榻Y(jié)晶關(guān)系導(dǎo)致測(cè)試界面曝光度過大,導(dǎo)致無法測(cè)試
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