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產(chǎn)品簡介
超聲顯微鏡芯片封裝內(nèi)部分層缺陷空洞晶圓芯片功率器件金屬焊接缺陷陶瓷裂縫檢測
超聲顯微鏡芯片封裝內(nèi)部分層缺陷空洞晶圓芯片功率器件金屬焊接缺陷陶瓷裂縫檢測
產(chǎn)品價格:¥39.00
上架日期:2024-07-18 03:29:32
產(chǎn)地:上海上海市
發(fā)貨地:上海上海市
供應數(shù)量:不限
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詳細說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    品牌上海思為
    尺寸800mm*600mm*1300mm
    重量150KG
    分辨率80
    測量范圍260mm*100mm*50mm
    加工定制
    頻率范圍50MHz
    安裝方式人員安裝
    工作溫度10℃
    適用范圍半導體
    用電標準220V
    最大掃描速度1000mm/s
    運動臺精度±1um
    最大耗時≤30s
    可售賣地全國
    型號YTS-500

    水浸超聲波掃描顯微鏡無損檢測系統(tǒng) 一體機、桌面機超聲顯微鏡 C掃描焊接低壓電器銀點釬著率、半導體空洞率、金剛石焊接率、水冷板裂痕無損檢測機C-SAM檢測設備

    可為客戶提供超聲無損檢測儀器定制、檢測標準定制、檢測方案及夾具定制服務。現(xiàn)已形成C100標準機型、C200大構(gòu)件機型、C300高速機型及C400小型機,產(chǎn)品已通過CE、CSA認證,可滿足低壓電器焊接質(zhì)量檢測、金剛石缺陷和厚度測量、水冷板散熱器檢測、半導體封測等行業(yè)需求。

    支持非標訂制,根據(jù)產(chǎn)品測試件來料ODM、OEM等全面服務

    需要詳細了解,請聯(lián)系我們哦,期待您的來電!鄭先生1.5.0.8.8.9.9.1.1.8.0

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