| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | Xarion | ||
| 產(chǎn)品特性 | LEA系統(tǒng) | ||
| 是否進(jìn)口 | 是 | ||
| 適用范圍 | 激光超聲無損檢測 | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 型號 | LEA系統(tǒng) | ||
產(chǎn)品介紹：
LEA系統(tǒng)是從事復(fù)合材料，金屬和粘合接頭無損檢測的研發(fā)實驗室或研究機(jī)構(gòu)的工具。集成掃描儀解決方案將LEA技術(shù)與高分辨率x-y掃描儀和實時數(shù)據(jù)分析軟件相結(jié)合。無需水或偶聯(lián)凝膠即可實現(xiàn)非接觸式高分辨率掃描。
超聲波信號由基于激光的激發(fā)技術(shù)產(chǎn)生，光學(xué)麥克風(fēng)可檢測從樣品傳輸或反射的聲音信號?？梢詧?zhí)行透射傳輸和單側(cè)（一發(fā)一收）測量，從而以非接觸方式檢測內(nèi)部缺陷、分層或孔隙率。對于時間敏感的應(yīng)用，虹科還提供八通道麥克風(fēng)陣列系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
激光超聲非接觸檢測
無需水與耦合劑
掃描成像，內(nèi)部探測
同側(cè)反射與對側(cè)透射模式
應(yīng)用場景：
汽車點(diǎn)焊檢測
電池質(zhì)量檢測
復(fù)合材料缺陷檢測
半導(dǎo)體缺陷檢測
參數(shù)圖：
