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產品簡介
QFN240.35老化座芯片測試座ICburninsocket助聽硅麥測試連接器
QFN240.35老化座芯片測試座ICburninsocket助聽硅麥測試連接器
產品價格:¥244.00
上架日期:2023-09-18 20:51:21
產地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應數(shù)量:不限
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詳細說明
    產品參數(shù)
    封裝/規(guī)格插件
    類型DIP
    間距0.35
    圓孔/方孔圓孔
    觸頭鍍層
    工作溫度范圍-45~155℃
    包裝盒裝
    認證機構CE
    最小包裝量1
    數(shù)量1
    封裝QFN
    批號以出貨為準
    品牌ANDK
    型號QFN24(3*3)-0.35-0092TGH
    總針腳數(shù)24 1

    QFN36-0.35-3*3-0091TGH芯片測試座
    1.引腳:36 signal Pin 1 GND;
    2.間距:0.35mm
    3.尺寸:4*4mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.






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