X熒光分析儀
X-RAY熒光光譜儀 X-RAY熒光分析儀
X射線熒光分析儀應(yīng)用領(lǐng)域，主要應(yīng)用于科研及X熒光光譜儀領(lǐng)域，對(duì)于ROHS檢測(cè)、
檢測(cè)、合金檢測(cè)、塑料檢測(cè)、土壤重金屬檢測(cè)、礦石、材料檢測(cè)以及石油檢測(cè)。
技術(shù)參數(shù):
一、分析范圍S U·
精度 RSD≤0.05% Au≥90%
測(cè)試樣品的物理狀態(tài)固體、粉末、液體.
光管電壓5KV~50KV/
.
高壓電源5~50KV.
光管管流50uA~1000Ua.
CCD攝像頭
準(zhǔn)直器\濾光片自動(dòng)切換系統(tǒng)
探測(cè)器Amptek
Si-Pin/SDD.
分辨率Si-pin160+5eVISDD13515eV.
測(cè)試時(shí)間30sec ~300sec.
ROHS分析常見元素 Cd、Pb、Hg、Br、Cr、C1.
分析軟件:定性定量分析軟件.
