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特性阻抗測試儀Controlled Impedance Test System
CITS900S4 規(guī)格說明：
特性阻抗測試系統(tǒng)(Controlled Impedance test systems)，型號：CITS900S4，生產(chǎn)商：英國 POLAR
公司，
POLAR CITS900S4 提供了電路板控制阻抗量測的唯一解決方案,此卓越量測系統(tǒng)特別設(shè)計用于
PCB 生產(chǎn)線環(huán)境,操作極簡單.
CITS900S4 由 32bit 軟件控制,使用 TDR 技術(shù)去量測快速上升時間之脈波的反射信號,提供沿著銅軌
長度上的圖形化特性阻抗顯示.
每臺 CITS900S4 的整個電阻量測范圍上,確保皆為高精度性能,因為使用 32bit 軟件,并于出廠前使用
可追塑至國際標準的 28,50,75 及 100ohm 的標準 Airline 作 4 點全范圍自動校正,另用 resistor box 對
150，180 檔位進行校正，并提供校正報告.
此系統(tǒng)提供了 PCB 單端線路及差動線路的簡易,準確測量方法。
測量控制阻抗
阻抗測量通常使用時域反射計 (TDR) 來完成。TDR 通過控制阻抗線纜和探針向試樣應(yīng)用快速電壓
步長。任何脈沖微波中的反射都將顯示在 TDR 上，并且表示阻抗值的變化（稱為不連續(xù)性。）TDR
可以表明不連續(xù)性的位置和幅度。使用適當?shù)能浖?，TDR 可以繪制試樣的測試跡線長度上的阻抗
圖。所生成的跡線特性阻抗的圖形化表示將允許在生產(chǎn)環(huán)境中執(zhí)行此前所述的復(fù)雜測量。