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ICT在線測(cè)試儀第一品牌【捷甫，陳先生，13392835889 】ICT在線測(cè)試儀價(jià)格，深圳過(guò)錫爐治具，測(cè)試治具供應(yīng)商，深圳過(guò)爐治具，深圳ICT在線測(cè)試儀公司。
ICT在線測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來(lái)越強(qiáng)，封裝越來(lái)越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難，開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；最后提出了邊界掃描語(yǔ)言（Boundary Scan Debion Language），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。深圳市捷甫電子有限公司專業(yè)生產(chǎn)ICT在線測(cè)試儀、DIP/SMT過(guò)爐治具（載具）、BGA測(cè)試治具等。非常歡迎您來(lái)電咨詢。
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