EL缺陷測(cè)試儀
· 【設(shè)備用途】
· 該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú),如隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。
· 【設(shè)備簡(jiǎn)介】
· 1、核心部件（紅外像機(jī)）采用日本原裝進(jìn)口整件，610萬(wàn)像素； 2、采用日本進(jìn)口鏡頭，可有效調(diào)節(jié)聚焦位置，大大提高圖片清淅度； 3、全封閉光路設(shè)計(jì)，確保檢測(cè)儀長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，對(duì)環(huán)境適應(yīng)能力更強(qiáng)； 4、整機(jī)設(shè)備人性化設(shè)計(jì)，軟件操作簡(jiǎn)捷明了。
參數(shù)及說(shuō)明
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型號(hào)規(guī)格 |
GELD-610 |
GELD-140 |
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最大檢測(cè)尺寸 |
2000mm x 1400mm | |
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最高分辨率 |
3032H x 2016V |
1392H x 1040V |
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光學(xué)尺寸 |
1.8 Inches |
2/3 Inches |
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幀 率 |
3 fps |
15fps |
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像素尺寸 |
7.8um x 7.8um |
6.45um x 6.45um |
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信 噪 比 |
>56dB | |
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動(dòng)態(tài)范圍 |
60dB | |
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曝光時(shí)間 |
1Ms - 60Min |
1/5000s - 2s |
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曝光控制 |
自動(dòng)、手動(dòng) | |
