AB全系列 PLC 模塊 CPU 變頻器 傳感器 觸摸屏 大量現(xiàn)貨
1747-AENTR 1756-A10 1762-IA8 1763-BA 1769-ADN 1747-BA 1756-A13 1762-IF2OF2 1763-L16AWA 1769-AENTR 1747-BAJMPR 1756-A17 1762-IF4 1763-L16BBB 1769-ARM 1747-C10 1756-A4 1762-IQ16 1763-L16BWA 1769-ASCII 1747-C13 1756-A7 1762-IQ32T 1763-L16DWD 1769-BA 1747-C20 1756-BA1 1762-IQ8 1763-MM1 1769-ECL 1747-CP3 1756-BA2 1762-IQ8OW6 1763-NC01 1769-ECR 1747-DU501 1756-BATA 1762-IR4 1766-L32AWA 1769-HSC 1747-FC 1756-BATM 1762-IT4 1766-L32AWAA 1769-IA16 1747-KY1 1756-CFM 1762-L24AWA 1766-L32BWA 1769-IA8I 1747-L532 1756-CN2 1762-L24AWAR 1766-L32BWAA 1769-IF16C 1747-L533 1756-CN2R 1762-L24BWA 1766-L32BXB 1769-IF16V 1747-L541 1756-CNB 1762-L24BWAR 1766-L32BXBA 1769-IF4 1747-L542 1756-CNBR 1762-L24BXB 1766-MM1 1769-IF4I 1747-L543 1756-CP3 1762-L24BXBR 1768-CNB 1769-IF8 1747-L551 1756-CPR2 1762-L40AWA 1768-CNBR 1769-IG16 1747-L552 1756-DH485 1762-L40AWAR 1768-ENBT 1769-IM12 1747-L553 1756-DHRIO 1762-L40BWA 1768-EWEB 1769-IQ16 1747-M13 1756-DNB 1762-L40BWAR 1768-KY1 1769-IQ16F 1747-M15 1756-EN2F 1762-L40BXB 1768-L43 1769-IQ32
1771-ASB 1784-PCIC 1785-ENET 1794-ACN15 1771-BA 1784-PCICS 1785-L20B 1794-ACNR 1771-CAD 1784-PCIDS 1785-L20E 1794-ACNR15 1771-CAS 1784-PKTCS 1785-L26B 1794-ADN 1771-CD 1784-PKTX 1785-L40B 1794-ADNK 1771-CE 1784-PKTXD 1785-L40C 1794-AENT 1771-CFM 1784-U2CN 1785-L40C15 1794-AENTR 1771-CFMK 1784-U2DHP 1785-L40E 1794-IA16 1771-HD 1784-U2DN 1785-L46C15 1794-IA8 1771-HDP 1785-ENET 1785-L60B 1794-IA8I 1771-HODS 1785-L20B 1785-L60L 1794-IB10XOB6 1771-HRA 1785-L20E 1785-L80B 1794-IB16 1771-HS3A 1785-L40B 1785-L80C 1794-IB16D 1771-HS3CR 1785-L40C 1785-L80C15 1794-IB16XT 1771-HSAR 1785-L40C15 1785-L80E 1794-IB32 1771-HSARS 1785-L40E 1785-L86B 1794-IB8 1771-HSN 1785-L60B 1785-L11B 1794-IC16 1771-HT 1785-L60L 1785-L20C15 1794-IE12 1771-HT3 1785-L80B 1785-L30B 1794-IE4XOE2 1771-HTE 1785-L80C 1785-L40L 1794-IE8 1771-HTT 1785-L80C15 1785-L46B 1794-IE8H
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工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測試儀
1.功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號(hào)方案的不同的影響,是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測試技術(shù),要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以,這項(xiàng)功能測試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測試議,在對于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測試后,均會(huì)給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢?這就是這類測試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測試時(shí),所受影響(干擾)的因素太多。要求在測試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號(hào)等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測試結(jié)果有時(shí)不盡人意。
6. 了解在線測試儀的讀者,均知道有這么一句行話。“在線測試時(shí)不通過的芯片不一定是損壞的;測試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為,如器件受在線影響或抗干擾時(shí),結(jié)果可能不通過,對此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進(jìn)行測試時(shí),均會(huì)得出“不通過”呢?回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個(gè)芯片板子就不工作了),但測試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測試儀自身工作原理(后驅(qū)動(dòng)技術(shù))所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
維修技巧之二
在無任何原理圖狀況下要對一塊比較陌生的電路板進(jìn)行維修,以往的所謂“經(jīng)驗(yàn)”就難有作為,盡管硬件功底深厚的人對維修充滿信心,但如果方法不當(dāng),工作起來照樣事倍功半。那么,怎樣做才能提高維修效呢?根據(jù)我公司進(jìn)口設(shè)備維修中心統(tǒng)計(jì)出來的資料,應(yīng)遵循以下幾個(gè)步驟、按順序有條不紊的進(jìn)行。
方法一:先看后量
使用工具:萬用表、放大鏡
當(dāng)手拿一塊待修的電路板,良好的習(xí)慣首先是應(yīng)對其進(jìn)行目測,必要時(shí)還要借助放大鏡,看什么呢?
主要看:
1、是否有斷線;
2、分力元件如電阻、電解電容、電感、二極管、三極管等時(shí)候存在斷開現(xiàn)象;
3、電路板上的印制板連接線是否存在斷裂、粘連等;
4、是否有人修過?動(dòng)過哪些元器件?是否存在虛焊、漏焊、插反等操作方面的失誤;
在確定了被修無上述狀況后,首先用萬用表測量電路板電源和地之間的阻值,通常電路板的阻值都在70-80?以上,若阻值太小,才幾個(gè)或十幾個(gè)歐姆,說明電路板上有元器件被擊穿或部分擊穿,就必須采取措施將被擊穿的元器件找出來。具體辦法是給被修板供電,用手去摸電路板上各器件的
溫度,燙手的講師重點(diǎn)懷疑對象。若阻值正常,用萬用表測量板上的阻、二極管、三極管、場效應(yīng)管、撥段開關(guān)等分力元件,其目的就是首先要確保測量過的元件是正常的,我們的理由是,能用萬用表解決的問題,就不要把它復(fù)雜化。
方法二:先外后內(nèi)
使用工具:電路在線維修儀
如果情況允許,是找一塊與被維修板一樣的好板作為參照,然后使用一起的雙棒VI曲線掃描功能對兩塊板進(jìn)行好、壞對比測試,起始的對比點(diǎn)可以從端口開始,然后由表及里,尤其是對電容的對比測試,可以彌補(bǔ)萬用表在線難以測出是否漏電的缺憾。
方法三:先易后難
使用工具:電路在線維修儀、電烙鐵、記號(hào)筆
為提高測試效果,在對電路板進(jìn)行在線功能測試前,應(yīng)對被修板做一些技術(shù)處理,以盡量削弱各種干擾對測試進(jìn)程帶來的負(fù)面影響。具體措施是:
1、測試前的準(zhǔn)備
將晶振短路,對大的電解電容要焊下一條腳使其開路,因?yàn)殡娙莸某浞烹娡瑯右材軒砀蓴_。
2、采用排除法對器件進(jìn)行測試
對器件進(jìn)行在線測試或比較過程中,凡是測試通過(或比較正常)的器件,請直接確認(rèn)測試結(jié)果,以便記錄;對測試未通過(或比較超差)的,可再測試一遍,若還是未通過,也可先確認(rèn)測試結(jié)果,就這樣一直測試下去,直到將板上的器件測試(或比較)完,然后再回過頭來處理那些未通過測試(或比較超差)的器件。對未通過功能在線測試的器件,儀器還提供了一種不太卻又比較實(shí)用的處理方法,由于儀器對電路板的供電可以通過測試夾施加到器件相應(yīng)的電源與地腳,若對器件的電源腳實(shí)施刃割,則這個(gè)器件將脫離電路板供電系統(tǒng),這時(shí)再對該器件進(jìn)行在線功能測試,由于電路板上的其他器件將不會(huì)再起干擾作用,實(shí)際測試效果等同于“準(zhǔn)離線”,測準(zhǔn)率將獲得很大提高。
3、用ASA-VI曲線掃描測試對測試庫尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測試
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對任何器件的比較測試,只要測試夾能將器件夾住,再有一塊參照板,通過對比測試,同樣對器件具備較強(qiáng)的故障偵測能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測試要受制于測試庫的不足,拓展了儀器對電路板故障的偵測范圍?,F(xiàn)實(shí)中往往會(huì)出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景,而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對稱性,在這種情況下,ASA-VI曲線掃描比較測試功能起不了作用,而在線功能測試由于器件測試庫的不完全,無法完成對電路板上每一個(gè)器件都測試一遍,電路板依然無法修復(fù),這兒就是電路在線維修儀的局限,就跟沒有包治百病的藥一樣。
方法四:先靜后動(dòng)
由于電路在線維修儀目前只能對電路板上的器件進(jìn)行功能在線測試和靜態(tài)特征分析,是否完全修好必須要經(jīng)過整機(jī)測試檢驗(yàn),因此,在檢驗(yàn)時(shí)先檢查一下設(shè)備的電源是否按要求正確供給到電路板上。
維修技巧之三
用萬能表檢測電路板
1.離線檢測
測出IC芯片各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn).
2.在線檢測
1)直流電阻的檢測法
同離線檢測.但要注意:
(a)要斷開待測電路板上的電源;
(b)萬能表內(nèi)部電壓不得大于6V;
(c)測量時(shí),要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測量法
測得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意:
(a)萬能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,
并應(yīng)長出筆尖約5mm;
(d)當(dāng)測量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對IC芯片正
常值有無影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析;
(e)IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路,
開路或變質(zhì)等;
(f)IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的入手.先查外圍元器件,
若無故障,則IC芯片損壞;
(g)對工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無信號(hào)IC芯片引腳電壓是不
同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞;
(h)對多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同
的.
3)交流工作電壓測試法
用帶有dB檔的萬能表,對IC進(jìn)行交流電壓近似值的測量.若沒有dB
檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用
于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號(hào)將受固有頻率,波形不
同而不同.所以所測數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考.
4)總電流測量法
通過測IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直
流耦合,IC損壞時(shí)(如PN結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級飽和與截止,使
總電流發(fā)生變化.所以測總電流可判斷IC的好壞.在線測得回路電
阻上的電壓,即可算出電流值來.
以上檢測方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來運(yùn)用.運(yùn)用好了
就能維修好各種電路板。
維修技巧之四
集成電路代換技巧
一、直接代換
直接代換是指用其他IC不經(jīng)任何改動(dòng)而直接取代原來的IC,代換后不影響機(jī)器的主要性能與指標(biāo)。
其代換原則是:代換IC的功能、性能指標(biāo)、封裝形式、引腳用途、引腳序號(hào)和間隔等幾方面均相同。其中IC的功能相同不僅指功能相同;還應(yīng)注意邏輯極性相同,即輸出輸入電平極性、電壓、電流幅度必須相同。例如:圖像中放IC,TA7607與TA7611,前者為反向高放AGC,后者為正向高放AGC,故不能直接代換。除此之外還有輸出不同極性AFT電壓,輸出不同極性的同步脈沖等IC都不能直接代換,即使是同一公司或廠家的產(chǎn)品,都應(yīng)注意區(qū)分。性能指標(biāo)是指IC的主要電參數(shù)(或主要特性曲線)、耗散功率、工作電壓、頻率范圍及各信號(hào)輸入、輸出阻抗等參數(shù)要與原IC相近。功率小的代用件要加大散熱片。其中
1.同一型號(hào)IC的代換
同一型號(hào)IC的代換一般是可靠的,安裝集成電路時(shí),要注意方向不要搞錯(cuò),否則,通電時(shí)集成電路很可能被燒毀。有的單列直插式功放IC,雖型號(hào)、功能、特性相同,但引腳排列順序的方向是有所不同的。例如,雙聲道功放IC LA4507,其引腳有“正”、“反”之分,其起始腳標(biāo)注(色點(diǎn)或凹坑)方向不同;沒有后綴與后綴為"R"的IC等,例如 M5115P與M5115RP.
2.不同型號(hào)IC的代換
⑴型號(hào)前綴字母相同、數(shù)字不同IC的代換。這種代換只要相互間的引腳功能完全相同,其內(nèi)部電路和電參數(shù)稍有差異,也可相互直接代換。如:伴音中放IC LA1363和LA1365,后者比前者在IC第⑤腳內(nèi)部增加了一個(gè)穩(wěn)壓二極管,其它完全一樣。
⑵型號(hào)前綴字母不同、數(shù)字相同IC的代換。一般情況下,前綴字母是表示生產(chǎn)廠家及電路的類別,前綴字母后面的數(shù)字相同,大多數(shù)可以直接代換。但也有少數(shù),雖數(shù)字相同,但功能卻完全不同。例如,HA1364是伴音IC,而uPC1364是色解碼IC;4558,8腳的是運(yùn)算放大器NJM4558,14腳的是CD4558數(shù)字電路;故二者完全不能代換。
⑶型號(hào)前綴字母和數(shù)字都不同IC的代換。有的廠家引進(jìn)未封裝的IC芯片,然后加工成按本廠命名的產(chǎn)品。還有如為了提高某些參數(shù)指標(biāo)而改進(jìn)產(chǎn)品。這些產(chǎn)品常用不同型號(hào)進(jìn)行命名或用型號(hào)后綴加以區(qū)別。例如,AN380與uPC1380可以直接代換;AN5620、TEA5620、DG5620等可以直接代換。
二、非直接代換
非直接代換是指不能進(jìn)行直接代換的IC稍加修改外圍電路,改變原引腳的排列或增減個(gè)別元件等,使之成為可代換的IC的方法。
代換原則:代換所用的IC可與原來的IC引腳功能不同、外形不同,但功能要相同,特性要相近;代換后不應(yīng)影響原機(jī)性能。
1.不同封裝IC的代換
相同類型的IC芯片,但封裝外形不同,代換時(shí)只要將新器件的引腳按原器件引腳的形狀和排列進(jìn)行整形。例如,AFT電路CA3064和CA3064E,前者為圓形封裝,輻射狀引腳;后者為雙列直插塑料封裝,兩者內(nèi)部特性完全一樣,按引腳功能進(jìn)行連接即可。雙列IC AN7114、AN7115與LA4100、LA4102封裝形式基本相同,引腳和散熱片正好都相差180°。前面提到的AN5620帶散熱片雙列直插16腳封裝、TEA5620雙列直插18腳封裝,9、10腳位于集成電路的右邊,相當(dāng)于AN5620的散熱片,二者其它腳排列一樣,將9、10腳連起來接地即可使用。
2.電路功能相同但個(gè)別引腳功能不同IC的代換
代換時(shí)可根據(jù)各個(gè)型號(hào)IC的具體參數(shù)及說明進(jìn)行。如電視機(jī)中的AGC、視頻信號(hào)輸出有正、負(fù)極性的區(qū)別,只要在輸出端加接倒相器后即可代換。
3.類型相同但引腳功能不同IC的代換
這種代換需要改變外圍電路及引腳排列,因而需要一定的理論知識(shí)、完整的資料和豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)與技巧。
4。有些空腳不應(yīng)擅自接地
內(nèi)部等效電路和應(yīng)用電路中有的引出腳沒有標(biāo)明,遇到空的引出腳時(shí),不應(yīng)擅自接地,這些引出腳為更替或備用腳,有時(shí)也作為內(nèi)部連接。
5.用分立元件代換IC
有時(shí)可用分立元件代換IC中被損壞的部分,使其恢復(fù)功能。代換前應(yīng)了解該IC的內(nèi)部功能原理、每個(gè)引出腳的正常電壓、波形圖及與外圍元件組成電路的工作原理。同時(shí)還應(yīng)考慮:
⑴信號(hào)能否從IC中取出接至外圍電路的輸入端:
⑵經(jīng)外圍電路處理后的信號(hào),能否連接到集成電路內(nèi)部的下一級去進(jìn)行再處理(連接時(shí)的信號(hào)匹配應(yīng)不影響其主要參數(shù)和性能)。如中放IC損壞,從典型應(yīng)用電路和內(nèi)部電路看,由伴音中放、鑒頻以及音頻放大級成,可用信號(hào)注入法找出損壞部分,若是音頻放大部分損壞,則可用分立元件代替。
6.組合代換
組合代換就是把同一型號(hào)的多塊IC內(nèi)部未受損的電路部分,重新組合成一塊完整的IC,用以代替功能不良的IC的方法。對買不到原配IC的情況下是十分適用的。但要求所利用IC內(nèi)部完好的電路一定要有接口引出腳。
非直接代換關(guān)鍵是要查清楚互相代換的兩種IC的基本電參數(shù)、內(nèi)部等效電路、各引腳的功能、IC與外部元件之間連接關(guān)系的資料。實(shí)際操作時(shí)予以注意:
⑴集成電路引腳的編號(hào)順序,切勿接錯(cuò);
⑵為適應(yīng)代換后的IC的特點(diǎn),與其相連的外圍電路的元件要作相應(yīng)的改變;
⑶電源電壓要與代換后的IC相符,如果原電路中電源電壓高,應(yīng)設(shè)法降壓;電壓低,要看代換IC能否工作。
⑷代換以后要測量IC的靜態(tài)工作電流,如電流遠(yuǎn)大于正常值,則說明電路可能產(chǎn)生自激,這時(shí)須進(jìn)行去耦、調(diào)整。若增益與原來有所差別,可調(diào)整反饋電阻阻值;
⑸代換后IC的輸入、輸出阻抗要與原電路相匹配;檢查其驅(qū)動(dòng)能力。
⑹在改動(dòng)時(shí)要充分利用原電路板上的腳孔和引線,外接引線要求整齊,避免前后交叉,以便檢查和防止電路自激,特別是防止高頻自激;
[7]在通電前電源Vcc回路里再串接一直流電流表,降壓電阻阻值由大到小觀察集成電路總電流的變化是否正常。
維修技巧之五
維修經(jīng)驗(yàn)總結(jié)
一.帶程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,
故在測試中不會(huì)損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著
時(shí)間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要
盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片
是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時(shí),還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過
多次試驗(yàn),可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電
所致.
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
二.復(fù)位電路
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí),應(yīng)注意復(fù)位問題.
2.在測試前裝回設(shè)備上,反復(fù)開,關(guān)機(jī)器試一試.以及多按幾次復(fù)
位鍵.
三.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時(shí)可采用兩種判斷方法:a.測試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點(diǎn).
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計(jì):1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時(shí),又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.