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產(chǎn)品簡介

美國GE探傷儀特殊探頭WB45

產(chǎn)品價格：￥面議

上架日期：2021-03-23 21:05:54

產(chǎn)地：本地

發(fā)貨地：本地至全國

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詳細說明

品牌：美國GE	型號：WB45	加工定制：否
類型：超聲波	測量范圍：根據(jù)選配	分辨率：根據(jù)選配
尺寸：222222 mm	重量：0.1 kg

美國GE探傷儀特殊探頭

數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測系統(tǒng) | 超聲波 | X射線

特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
如果您正有一個檢測難題需要解決，而標準探頭不能解決您的問題，那么您需要讀讀這本小冊子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測領域獲得成功應用的特殊探頭，它們都已經(jīng)通過檢測驗證，得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測問題。

由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產(chǎn)品型號的編號上對探頭歸類（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對檢測任務有詳細的了解。

*好的解決方案是您能發(fā)給我們檢測物件的圖紙，上面標有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊子里沒有找到與您的檢測問題相關的信息，也請把你的詳細需求發(fā)給我們，我們的探頭及應用將很樂意為您尋求*佳解決方案并為您提供合適的探頭。

特殊探頭能為您解決特殊檢測問題

① RB…,MRB…型
用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時從兩個周向檢測管道的。Lemo00接頭。
② IR…型
從管道內(nèi)部檢測缺陷或測量厚度。
③ Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz，6個6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他
頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭，相應的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。
④ IALF10…型
10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m
Lemo1接口探頭線。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭。

鐵軌檢測探頭
① SESZS…型
4MHz雙晶直探頭， 0.95m探頭線，Lemo接頭。
② SESZW…型
雙晶斜探頭，聲束同時向前，向后70o入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。
③ WB45-01型
45o斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測鐵軌。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統(tǒng)自動檢測。用于坯餅檢測時請參
考第6頁，板坯檢測。關于其他的檢測問題，請聯(lián)系我們的技術人員。

用于軸承和輪軸
① B2S-0A…型
1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護膜。通過不同角度延
遲塊得到7o 14o 21o 28o 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
② AW…型
斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探
傷，探頭接觸面可與曲面耦合。
③ ASW…型
斜探頭，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個。
④ B…S, MB…S
直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為
Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。
⑤ Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設計，與Lemo 00插頭匹配。
注釋:
對于粗晶材料(由于晶粒散射而導致信噪比差)，請參照第15頁“粗晶結構材料
的檢測”。關于特大軸承檢測請參照第6頁“大型部件檢測”。

用于板坯
① SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個發(fā)射晶片和3個接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個Lemo1接頭。
① 5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測。
② B…S-O型
提供各種頻率的直探頭，可更換保護膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測平板輥筒。
③ SEZ4N30V，SEB4TV型
4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。
④ UWB…
1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接
口，用于產(chǎn)生蘭姆波。

用于大型部件
① NQP…型
用于直接接觸法的聚焦直探頭，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或
75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個方向的相
鄰缺陷。
② WQP…型
聚焦斜探頭，晶片直徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。
③ SEB…G型
雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz，大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。
④ GRST…型
相控陣探頭，聲束焦點和角度可變，可用于自動檢測系統(tǒng)。

用于特殊形狀工件
例如飛機零件
① G…MN，G…KS型
多種頻率高分辨率的直探頭，可更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為
Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁測量。檢測塑料時，延遲塊可根
據(jù) 實際使用環(huán) 境設計，使延遲塊跟工件完美耦合，消除界面回波（0界面探頭）。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防
水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測量。
③ SMWB…
小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測鉚釘孔的裂紋，也可用串聯(lián)式技術檢測。

例如：汽車部件
汽車零件的檢測幾乎是機械自動化的。活塞，閥門，輪軸，齒輪檢測的相關信
息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到。點焊檢測的信息參見第10頁。

美國GE探傷儀特殊探頭
用于其他檢測應用
超聲檢測的應用范圍非常廣，我們經(jīng)常接到一些檢測應用要求，有些檢測要求
至今為止都沒有方法實現(xiàn)，我們收集了大量相關資料。這里列舉了一些例子：
豬的脂肪與肌肉檢測，皮膚厚度的測量，眼睛的長度測量，人體眼睛透鏡厚
度的檢測，雞蛋殼的厚度測量，食物中固體的確定，金錠和金幣的檢測，骨骼
康復治療的監(jiān)測，液體的凝固和分離，啤酒，奶酪或水果的成熟度，微型電子
部件等的檢測。
我們致力于解決超聲領域各種應用要求。因此，如果您有檢測要求，請務必
與我們聯(lián)系，我們將給你一個*佳解決方案。

用于混凝土，石頭，和木材
① B0.05N，B0.05U…型
直探頭， 5 0 K H Z ，接觸面 3 0 m m 和55mm，信號衰減弱，Lemo1接頭；只
能用于穿透式檢測。我們可以提供更高頻率探頭。
② B0.05NN型
直探頭，50KHZ，探頭通過增強桿增強超聲信號，聲束傳播直徑大，Lemo1接
頭，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(如木材）。
③ K0.1G，K0.25G型
100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續(xù)時間
短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測量超聲傳播時間。
③ B…SL，G0.5G型
250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。

用于陶瓷（如絕緣材料）
① K…G，K…N 型
高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。
② IB…
2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設計使得探頭能進入傘形絕緣體的縫隙中。
③ IW…B…
4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點。注釋：大部分標準探頭可以用于檢測大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。

用于簡單復合纖維塑料
① G…NS，G…KS型
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，Lemo00接頭?？梢愿鶕?jù)工件材料設計延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測量。
② CA212，CA214
高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測量。
② G…N，G…KB
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。
③ W70B2GT型
70o斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測PE和PVC材料。65o斜探頭可用于檢測大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。

說明：
關于熱塑料的檢測請參見特別版SD277資料，干耦合檢測相關信息見第14頁。

用于點焊檢測
① G20MN…型
高分辨率直探頭， P V D F 晶片，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護膜密封，用于點焊檢測；晶片尺寸取決于點焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測更大厚度的點焊。更多詳情請看特別版SD272。

用于精密部件檢測
① G…MN型
各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點焊檢測。
② H…NA，H…KA，H…MA型
各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測量。
③ H...KP...F, H...MP...F型
各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機械自動檢測的噴水耦合噴嘴。

美國GE探傷儀特殊探頭
膠接層檢測
例如在滑動軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅，銅表面包銀），搭接焊，離合器扭轉(zhuǎn)或制動襯板粘結檢測，關于更詳細的膠接檢測信息請查閱另外更詳細的資料SD288。然而，對于大部分檢測應用要求，標準探頭都能滿足。如有特殊應用需求，請聯(lián)系我們-我們將為您提供*合適的探頭。

腐蝕檢測

DA312

雙晶探頭檢測的*小厚度為0.6mm。

DA412
性能與DA312一樣，比DA312多對話功能，探頭里存儲了探頭參數(shù)。

DA311
相當于標準探頭DA301，只是探頭接口在頂部。

DA303
2MHz雙晶探頭，用于測量聲能吸收或者聲散射嚴重的材料。

DA0，8G
雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴重的材料（例如，鑄件或者塑料）。

DA408
與DA0，8G相同，只是比DA0，8G多對話功能，探頭里存儲了探頭參數(shù)。

DA317類型
雙晶探頭用于檢測厚度比較小并且表面溫度*大為300℃的工件，該型號探頭的耦合穩(wěn)定性非常好。

DA319
與DA312相同，只是該型號能用于表面溫度高達250℃的工件。

HT400
雙晶探頭用于檢測表面溫度高達550℃的工件，在室溫下可測量的*小厚度為0.8mm。

DA305
雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測。

DA類型
一個非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接頭，可以檢測接觸面積非常小的工件。

CA212，CA214
高分辨率直探頭，頻率為 2 M H z 或5MHz，通過螺紋固定延遲塊或保護膜；適用于帶 A 掃描測厚儀測量厚度值。

用于測試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計算彈性模量。

G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。

G…K型為
Microdot接頭。適合測量縱波聲速。

SM-P…型
各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測量螺栓應力。

K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速，適用于精密測厚儀。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時封裝在一個外殼里。例如可以用來確定硬化層的厚度和純度。

Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測量硬化層深度。

注釋：
硬化層和未硬化層之間的結構突變是測量的先決條件。參見SD284。

Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測量。

美國GE探傷儀特殊探頭
串聯(lián)式焊縫檢測

W45SEK2/…型

45o斜探頭，雙晶片，兩晶片的聲軸交點在焊縫中心；適用于對接焊。

② D45N2…型
各種角度，頻率，晶片尺寸的斜探頭，適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測。可用于機械自動檢測。

高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測

W…B2GV，W…B4GV

45o，60o，70o斜探頭，頻率2MHZ，或4MHZ。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測。

② SEB4KV
4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測量。

LWG854型
防輻射探頭：如檢測滲水燃油桿。

③ H5KV型
5MHZ水浸探頭，防水Lemo03接頭，可在125o和60bar下工作。尤其適合檢測輸油管道連續(xù)厚度測量和缺陷檢測，用特殊的表面保護層可用于腐蝕性材料檢測。

④ K5KVB4型
5MHZ直探頭，耐熱延遲塊，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測。

注釋：
高溫測厚探頭詳細資料見第11頁。

用于結構復雜，空間接觸面積受限制的工件

SMWB型
小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。

② K…M…型
各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細探頭線?？商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。

③ WSY型
90o爬波探頭，Lemo00接頭，用來檢測難以接近的位置。

注釋：
爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑?。所以有些用其他超聲波無法檢測到的缺陷可以用爬波檢測到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波。

不用耦合劑（干耦合）檢測
如果在檢測工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來代替。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測工件耦合。滾筒探頭，
B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續(xù)檢測。在這種情
況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因為工件表面的臟物會
使探頭不能與工件耦合。這種技術尤其適合于塑料檢測。詳情請參見SD261。

用于粗晶材料的檢測（鑄件和奧氏體材料）
很多用于檢測粗晶材料的探頭都得到成功應用，現(xiàn)在已成為標準探頭。

包括：

K…S，K…SM

各頻率高分辨率直探頭，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭，通過螺紋固定保護膜，延遲線和斜楔。

② WRY…，WSY…
45o，60o，70o縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。

③ VRY…，VSY…
45o，60o，70o，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標準探頭頻率、入射角、接頭型號不同的探頭，請聯(lián)系我們，我們將給您提供*佳探頭，使其能滿足您的應用需求。

根據(jù)標準檢測
很多國家的標準都規(guī)定了探頭的技術參數(shù)，常規(guī)檢測的檢測方法和規(guī)范。這些
標準的數(shù)量和范圍都非常大，在此對于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。

如果您需要符合特定標準的探頭，請聯(lián)系我們，如果您急需探頭的話，我們建議您給我們提供基于標準的探頭技術資料。

深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年，是優(yōu)質(zhì)無損檢測儀器配套方案提供商，從事測試儀器儀表設備的代理、銷售和服務工作。在與國外*儀器儀表生產(chǎn)廠商的技術交流和銷售工作中有著廣泛長期的合作伙伴關系，并由此墊定了優(yōu)異且堅實的商業(yè)營運基礎。

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