美國(guó)泛美超聲波測(cè)厚 MG2-XT的簡(jiǎn)介：
Panametrics® MG2-XT型測(cè)厚儀具有與 Panametrics MG2型測(cè)厚儀相同的功能。 該測(cè)厚儀由于增加了B掃描、增益調(diào)整、 自動(dòng)靈敏度優(yōu)化、回波到回波、Olympus® THRU-COAT®（穿透鍍層）、差值模式、 高/低報(bào)警、可選動(dòng)態(tài)A掃描等測(cè)量功能， 可在條件惡劣的應(yīng)用中發(fā)揮更高的效能。 這款測(cè)厚儀是測(cè)量表面涂有鍍層或漆層的 材料厚度的最理想的儀器
實(shí)用測(cè)量功能（僅存在于MG2-XT型和MG2-DL型儀器中）
THRU-COAT（穿透鍍層）
這是一項(xiàng)專利技術(shù)：利用單個(gè)底面回波，儀器可同時(shí)顯示鍍層厚度和金屬的實(shí)際厚度。每次測(cè)量需根據(jù)校準(zhǔn)過的材料聲速進(jìn)行調(diào)整。Olympus®的THRU-COAT®（穿透鍍層）測(cè)量需使用D7906-SM和D7908探頭。
可調(diào)節(jié)波形的實(shí)時(shí)A掃描
這是一個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式：用戶可在 測(cè)厚儀屏幕上直接觀察超聲信號(hào)波形（A 掃描）；核查厚度讀數(shù)；還可手動(dòng)調(diào)整 增益和抑制設(shè)置，以便在挑戰(zhàn)性應(yīng)用中 最大限度地發(fā)揮儀器的測(cè)量性能。此利 于操作的選項(xiàng)具有以下功能：手動(dòng)增益 調(diào)整、鄰區(qū)抑制、回波抑制及延遲。
增益調(diào)整
此功能對(duì)于測(cè)量如鑄鐵等聲波衰減較大的材料非常有效。
? 將增益調(diào)整預(yù)置為高、低或標(biāo)準(zhǔn)
? 手動(dòng)增益調(diào)整的增量可被設(shè)置為1 dB（僅適用于實(shí)時(shí)A掃描模式）
鄰區(qū)抑制
可抑制因材料表面粗糙或不規(guī)則而引起 的噪聲回波（僅適用于實(shí)時(shí)A掃描模式）。
回波到回波
測(cè)厚儀利用多重底面回波，顯示不計(jì)鍍 層厚度的金屬的實(shí)際厚度：
? 自動(dòng)回波到回波
? 手動(dòng)回波到回波（僅適用于實(shí)時(shí)A掃 描模式）可進(jìn)行以下操作：
-- 增益調(diào)整
-- 鄰區(qū)抑制
-- 回波抑制
B掃描腐蝕成像
Panametrics MG2-XT型與Panametrics MG2-DL型儀器具有將實(shí)時(shí)測(cè)量的厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換成橫截面圖像的B掃描功能。該標(biāo)準(zhǔn)功能在需要察看工件厚度如何根據(jù)距離的不同而發(fā)生變化的應(yīng) 用中非常有用。在激活B掃描功能后，當(dāng)探頭接觸到被測(cè)材料時(shí)，屏幕上便會(huì)出現(xiàn)橫截面厚度圖像。最小凍結(jié)（Freeze Min）功能用于顯示掃查區(qū)域內(nèi)的最小厚度。Panametrics MG2-DL型儀器的數(shù)據(jù)記錄器可存儲(chǔ)多達(dá)1300幅B掃描圖像。
高溫表面
配用D790系列探頭 （D790、D790--SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型與 Panametrics® MG2-DL型測(cè)厚儀，是穩(wěn)定 測(cè)量表面溫度高達(dá)500oC的材料厚度的理 想儀器。MG2系列儀器的零位補(bǔ)償功能 通過補(bǔ)償因熱漂移引起的探頭延遲線在溫度上的變化，增加了在高溫表面進(jìn)行材料厚度測(cè)量的精確性。
可快速生成可靠文件的數(shù)據(jù)采集
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
強(qiáng)大的Panametrics® MG2-DL內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器可存儲(chǔ)、回放、傳輸31000個(gè)厚度讀數(shù)及其識(shí)別碼。配有可選實(shí)時(shí)波形模式功能的測(cè)厚儀還可存儲(chǔ)1300個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。儀器中所有的存儲(chǔ)信息都可被方便地傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
字母數(shù)字識(shí)別碼
用戶可以為每一個(gè)所存的厚度測(cè)量指定 一個(gè)含8個(gè)字符的文件名和最多可有10 個(gè)字母數(shù)字的識(shí)別碼。每個(gè)厚度測(cè)量的信息被全部歸檔，其中包括材料聲速、探頭數(shù)據(jù)和測(cè)量模式等參數(shù)信息。
機(jī)載統(tǒng)計(jì)計(jì)算器
Panametrics MG2-DL型儀器的內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器配有機(jī)載統(tǒng)計(jì)計(jì)算器，可生成直接傳輸?shù)酱蛴C(jī)的報(bào)告。
柵格顯示（GRIDVIEW）
柵格顯示功能（只存在于Panametrics MG2-DL型儀器中）可以柵格格式或擴(kuò)展的線性格式顯示所存的厚度數(shù)據(jù)。該功能便于用戶察看和瀏覽位于某行某列柵格單元中所存的厚度數(shù)據(jù)：在顯示當(dāng)前厚度測(cè)量值的同時(shí)，顯示其在柵格中的位置。
GAGEVIEW PRO接口程序
可選GageView?Pro接口程序的應(yīng)用基于Microsoft® Windows®系統(tǒng)。該程序可收集、創(chuàng)建、打印、管理來自Panametrics MG2-DL型儀器的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集與采樣。
? 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量采樣，以及將采樣上傳至測(cè)厚儀。
? 編輯存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。
? 查看包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀配置數(shù)值及探頭配置數(shù)值的數(shù)據(jù)集與采樣文件信息。
? 將采樣數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娮訑?shù)據(jù)表格及其它程序。
? 收集屏幕捕獲圖象。
? 打印厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)、顏色柵格的報(bào)告。
? 更新操作軟件。
? 托放到Microsoft Excel® 電子數(shù)據(jù)表格中。
具有自動(dòng)識(shí)別功能的探頭
每個(gè)MG2系列儀器都與我們公司生產(chǎn)的可互換式雙晶探頭系列的所有產(chǎn)品兼容。這些探頭的頻率、直徑及適應(yīng)溫度的能力各不相同，可滿足幾乎所有應(yīng)用的要求。
探頭工件編號(hào)
頻率
（MHz）
端部
直徑
（mm）
線纜
連接器
方向
范圍（在鋼中*）
（mm）
溫度
范圍**（°c）
連接桿
探頭架
（帶連接桿）
D790
5
11
密封
平直
1.00～508.00
–20～500
F152
F152A
D790-SM
LCMD-316-5B?
平直
F152
F152A
D790-RL
LCLD-316-5G?
90o
—-
—
D790-SL
LCLD-316-5H
平直
F152
F152A
D791
5
11
密封
90o
1.00～508.00
–20～500
F153
—
D791-RM
5
11
LCMD-316-5C
90o
1.00～508.00
–20～400
—
—
D792
10
7.2
密封
平直
0.50～25.00
0～50
F150
F150A
D793
90o
F151
—
D794
5
7.2
密封
平直
0.75～50.00
0～50
F150
F150A
D795
90o
F151
—
D797
2
22.9
密封
90o
3.80～635.00
–20～400
—
—
D797-SM
LCMD-316-5D
平直
D7226
7.5
8.9
密封
90o
0.71～100.00
–20～150
—
—
D798-LF
D798
7.5
7.2
密封
90o
0.71～100.00
–20～150
—
—
D798-SM
LCMD-316-5J
平直
D799
5
11
密封
90o
1.00～500.00
–20～150
—
—
D7906-SM??
5
11
LCMD-316-5L
平直
1.00～50.00
0～50
—
—
D7908??
7.5
7.2
密封
90o
1.00～37.00
0～50
—
—
MTD705
5
5.1
LCLPD-78-5
90o
1.00～19.00
0～50
—
—
* 取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。
** 最高溫度下，僅使用間歇接觸。
? 可提供不銹鋼線纜。欲查詢工件編號(hào)，請(qǐng)與Olympus聯(lián)系。
?? 用于Olympus® THRU-COAT ® （穿透鍍層）技術(shù)的探頭。
D790探頭
實(shí)用測(cè)量功能（僅存在于MG2-XT型和MG2-DL型儀器中）
THRU-COAT（穿透鍍層）
這是一項(xiàng)專利技術(shù)：利用單個(gè)底面回波，儀器可同時(shí)顯示鍍層厚度和金屬的實(shí)際厚度。每次測(cè)量需根據(jù)校準(zhǔn)過的材料聲速進(jìn)行調(diào)整。Olympus®的THRU-COAT®（穿透鍍層）測(cè)量需使用D7906-SM和D7908探頭。
可調(diào)節(jié)波形的實(shí)時(shí)A掃描
這是一個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式：用戶可在 測(cè)厚儀屏幕上直接觀察超聲信號(hào)波形（A 掃描）；核查厚度讀數(shù)；還可手動(dòng)調(diào)整 增益和抑制設(shè)置，以便在挑戰(zhàn)性應(yīng)用中 最大限度地發(fā)揮儀器的測(cè)量性能。此利 于操作的選項(xiàng)具有以下功能：手動(dòng)增益 調(diào)整、鄰區(qū)抑制、回波抑制及延遲。
增益調(diào)整
此功能對(duì)于測(cè)量如鑄鐵等聲波衰減較大的材料非常有效。
? 將增益調(diào)整預(yù)置為高、低或標(biāo)準(zhǔn)
? 手動(dòng)增益調(diào)整的增量可被設(shè)置為1 dB（僅適用于實(shí)時(shí)A掃描模式）
鄰區(qū)抑制
可抑制因材料表面粗糙或不規(guī)則而引起 的噪聲回波（僅適用于實(shí)時(shí)A掃描模式）。
回波到回波
測(cè)厚儀利用多重底面回波，顯示不計(jì)鍍 層厚度的金屬的實(shí)際厚度：
? 自動(dòng)回波到回波
? 手動(dòng)回波到回波（僅適用于實(shí)時(shí)A掃 描模式）可進(jìn)行以下操作：
-- 增益調(diào)整
-- 鄰區(qū)抑制
-- 回波抑制
B掃描腐蝕成像
Panametrics MG2-XT型與Panametrics MG2-DL型儀器具有將實(shí)時(shí)測(cè)量的厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換成橫截面圖像的B掃描功能。該標(biāo)準(zhǔn)功能在需要察看工件厚度如何根據(jù)距離的不同而發(fā)生變化的應(yīng) 用中非常有用。在激活B掃描功能后，當(dāng)探頭接觸到被測(cè)材料時(shí)，屏幕上便會(huì)出現(xiàn)橫截面厚度圖像。最小凍結(jié)（Freeze Min）功能用于顯示掃查區(qū)域內(nèi)的最小厚度。Panametrics MG2-DL型儀器的數(shù)據(jù)記錄器可存儲(chǔ)多達(dá)1300幅B掃描圖像。
高溫表面
配用D790系列探頭 （D790、D790--SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型與 Panametrics® MG2-DL型測(cè)厚儀，是穩(wěn)定 測(cè)量表面溫度高達(dá)500oC的材料厚度的理 想儀器。MG2系列儀器的零位補(bǔ)償功能 通過補(bǔ)償因熱漂移引起的探頭延遲線在溫度上的變化，增加了在高溫表面進(jìn)行材料厚度測(cè)量的精確性。
可快速生成可靠文件的數(shù)據(jù)采集
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
強(qiáng)大的Panametrics® MG2-DL內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器可存儲(chǔ)、回放、傳輸31000個(gè)厚度讀數(shù)及其識(shí)別碼。配有可選實(shí)時(shí)波形模式功能的測(cè)厚儀還可存儲(chǔ)1300個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。儀器中所有的存儲(chǔ)信息都可被方便地傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
字母數(shù)字識(shí)別碼
用戶可以為每一個(gè)所存的厚度測(cè)量指定 一個(gè)含8個(gè)字符的文件名和最多可有10 個(gè)字母數(shù)字的識(shí)別碼。每個(gè)厚度測(cè)量的信息被全部歸檔，其中包括材料聲速、探頭數(shù)據(jù)和測(cè)量模式等參數(shù)信息。
機(jī)載統(tǒng)計(jì)計(jì)算器
Panametrics MG2-DL型儀器的內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器配有機(jī)載統(tǒng)計(jì)計(jì)算器，可生成直接傳輸?shù)酱蛴C(jī)的報(bào)告。
柵格顯示（GRIDVIEW）
柵格顯示功能（只存在于Panametrics MG2-DL型儀器中）可以柵格格式或擴(kuò)展的線性格式顯示所存的厚度數(shù)據(jù)。該功能便于用戶察看和瀏覽位于某行某列柵格單元中所存的厚度數(shù)據(jù)：在顯示當(dāng)前厚度測(cè)量值的同時(shí)，顯示其在柵格中的位置。
GAGEVIEW PRO接口程序
可選GageView?Pro接口程序的應(yīng)用基于Microsoft® Windows®系統(tǒng)。該程序可收集、創(chuàng)建、打印、管理來自Panametrics MG2-DL型儀器的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集與采樣。
? 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量采樣，以及將采樣上傳至測(cè)厚儀。
? 編輯存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。
? 查看包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀配置數(shù)值及探頭配置數(shù)值的數(shù)據(jù)集與采樣文件信息。
? 將采樣數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娮訑?shù)據(jù)表格及其它程序。
? 收集屏幕捕獲圖象。
? 打印厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)、顏色柵格的報(bào)告。
? 更新操作軟件。
? 托放到Microsoft Excel® 電子數(shù)據(jù)表格中。
具有自動(dòng)識(shí)別功能的探頭
每個(gè)MG2系列儀器都與我們公司生產(chǎn)的可互換式雙晶探頭系列的所有產(chǎn)品兼容。這些探頭的頻率、直徑及適應(yīng)溫度的能力各不相同，可滿足幾乎所有應(yīng)用的要求。
|
探頭工件編號(hào) |
頻率 （MHz） |
端部 直徑 （mm） |
線纜 |
連接器 方向 |
范圍（在鋼中*） （mm） |
溫度 范圍**（°c） |
連接桿 |
探頭架 （帶連接桿） |
|
D790 |
5 |
11 |
密封 |
平直 |
1.00～508.00 |
–20～500 |
F152 |
F152A |
|
D790-SM |
LCMD-316-5B? |
平直 |
F152 |
F152A |
||||
|
D790-RL |
LCLD-316-5G? |
90o |
—- |
— |
||||
|
D790-SL |
LCLD-316-5H |
平直 |
F152 |
F152A |
||||
|
D791 |
5 |
11 |
密封 |
90o |
1.00～508.00 |
–20～500 |
F153 |
— |
|
D791-RM |
5 |
11 |
LCMD-316-5C |
90o |
1.00～508.00 |
–20～400 |
— |
— |
|
D792 |
10 |
7.2 |
密封 |
平直 |
0.50～25.00 |
0～50 |
F150 |
F150A |
|
D793 |
90o |
F151 |
— |
|||||
|
D794 |
5 |
7.2 |
密封 |
平直 |
0.75～50.00 |
0～50 |
F150 |
F150A |
|
D795 |
90o |
F151 |
— |
|||||
|
D797 |
2 |
22.9 |
密封 |
90o |
3.80～635.00 |
–20～400 |
— |
— |
|
D797-SM |
LCMD-316-5D |
平直 |
||||||
|
D7226 |
7.5 |
8.9 |
密封 |
90o |
0.71～100.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D798-LF |
||||||||
|
D798 |
7.5 |
7.2 |
密封 |
90o |
0.71～100.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D798-SM |
LCMD-316-5J |
平直 |
||||||
|
D799 |
5 |
11 |
密封 |
90o |
1.00～500.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D7906-SM?? |
5 |
11 |
LCMD-316-5L |
平直 |
1.00～50.00 |
0～50 |
— |
— |
|
D7908?? |
7.5 |
7.2 |
密封 |
90o |
1.00～37.00 |
0～50 |
— |
— |
|
MTD705 |
5 |
5.1 |
LCLPD-78-5 |
90o |
1.00～19.00 |
0～50 |
— |
— |
* 取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。
** 最高溫度下，僅使用間歇接觸。
? 可提供不銹鋼線纜。欲查詢工件編號(hào)，請(qǐng)與Olympus聯(lián)系。
?? 用于Olympus® THRU-COAT ® （穿透鍍層）技術(shù)的探頭。
