[EL缺陷測(cè)試儀專門用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。如有需要請(qǐng)聯(lián)系陶小姐T:15671696583或Q:1563376021]武漢三工官網(wǎng)：www.sunic.com.cn
EL140S-M EL缺陷測(cè)試儀
適用于電池片和組件，可檢測(cè)缺陷包括：
■裂片
■微隱裂
■破洞
■斷柵
■短路
■印刷不良
■工藝污染等缺陷。
■ 超大靶面CCD，靶面尺寸達(dá)到15 ×25mm，是普通CCD靶面的6倍 ■鏡頭尺寸達(dá)到∮52mm,是普通工業(yè)鏡頭進(jìn)光面積的5-8倍
■ 超低制冷溫度，最低可達(dá)-50 ℃，完全消除背景噪聲
■積分式低制冷型紅外增強(qiáng)CCD，950nm紅外光透過率達(dá)到97%
■非魚眼型鏡頭，避免了魚眼鏡頭產(chǎn)生的圖像扭曲、圖像變形、邊緣陰暗等缺陷，消除了此項(xiàng)重要誤差
■ 功能強(qiáng)大的軟件，品質(zhì)可靠的硬件，確保產(chǎn)線無故障生產(chǎn)運(yùn)行。
■ 操作簡(jiǎn)便，功能齊備，確保儀器全面解決各種缺陷檢測(cè)
■ 儀器細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)完美，消除人為誤操作因素
■ 強(qiáng)大的軟件功能，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)判別缺陷，自動(dòng)報(bào)警，不合格圖像單獨(dú)存儲(chǔ)
■人工判別與自動(dòng)判別相結(jié)合，可找出組件細(xì)微缺陷，實(shí)現(xiàn)全方位檢測(cè)。
■全自動(dòng)檢測(cè)---與產(chǎn)線結(jié)合，自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)定位、自動(dòng)加電、自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)存儲(chǔ)、自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)出樣回歸產(chǎn)線。實(shí)現(xiàn)組件無任何人工操作，避免人為損壞組件。
■鼠標(biāo)隨動(dòng)顯示，任意指向目標(biāo)位置，操作快速簡(jiǎn)便
■最大檢測(cè)尺寸可達(dá) 2200mm×1200mm
■成像時(shí)間：0 ~ 5000毫秒 可調(diào)節(jié)
■圖像有效像素：不小于1200萬(wàn)像素
■CCD制冷溫度：達(dá)到-50°C
■CCD靶面尺寸：不小于25 mm × 15 mm
■鏡頭尺寸：大尺寸進(jìn)光鏡頭，鏡頭直徑不小于∮52mm
■可選配：光強(qiáng)度分布分析檢測(cè)系統(tǒng)可以三維圖像方式，直觀、精確地生成各部分發(fā)光強(qiáng)度分布圖，并標(biāo)出光強(qiáng)精確數(shù)值。對(duì)各部分發(fā)電效率一目了然。
