• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層
可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
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型號(hào) |
MINITEST 1100 |
MINITEST 2100 |
MINITEST 3100 |
MINITEST 4100 |
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1 |
1 |
10 |
99 |
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值) |
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1 |
10 |
99 |
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
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1 |
500 |
500 |
| 數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
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√ |
√ |
√ |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
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√ |
√ |
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
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|
√ |
√ |
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
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|
√ |
√ |
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
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√ |
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
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√ |
√ |
| 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
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√ |
√ |
√ |
| 其他功能 | ||||
| 設(shè)置極限值 |
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√ |
√ |
| 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值 |
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√ |
√ |
| 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
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√ |
√ |
| 連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 |
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√ |
√ |
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探頭 |
量程 |
低端 分辨率 |
誤差 |
最小曲率半徑 (凸/凹) |
最小測(cè)量 區(qū)域直徑 |
最小基 體厚度 |
探頭尺寸 | |
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磁 感 應(yīng) 法 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
|
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm | |
|
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm | |
|
F2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm | |
|
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm | |
|
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm | |
|
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm | |
|
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm | |
|
兩 用 |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
|
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89mm | |
|
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm | |
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電 渦 流 法 |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
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N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm | |
|
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm | |
|
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm | |
|
N2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
50μm |
φ15x62mm | |
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N2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm | |
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N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm | |
|
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm | |
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N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm | |
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CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無(wú)限制 |
φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
相關(guān)涂鍍層檢測(cè)儀產(chǎn)品介紹如下：
1.DELTASCOPE MP10E銅箔測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
2.PHASCOPE PMP10測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
3.SR-SCOPE RMP30-S高精密銅箔測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
4.DELTASCOPE® MP30E-S便攜式磁感法測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
5.DELTASCOPE® MP30便攜式磁感法測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
6.DELTASCOPE® MP10E便攜式磁感法測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
7.DUALSCOPE® MP20E-S兩用涂鍍層測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
8.DUALSCOPE® MP40兩用涂鍍層測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
9.DUALSCOPE®MP40E-S高精度涂鍍層測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
10.DUALSCOPE®ED10高精度涂鍍層測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
11.ISOSCOPE® MP10E高精度涂鍍層測(cè)厚儀--德國(guó)菲希爾
12.MiniTest 4100高精度涂鍍層測(cè)厚儀(主機(jī))-德國(guó)EPK
其它涂裝檢測(cè)設(shè)備如下：
涂鍍層檢測(cè)儀、高精度涂鍍層測(cè)厚儀、機(jī)械式涂層測(cè)厚儀、庫(kù)侖及壁厚測(cè)厚儀、電火花檢測(cè)儀、色差計(jì)、透光儀、附著力測(cè)試儀
