對(duì)于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測(cè)粗晶材料時(shí)要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測(cè)部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測(cè)材料的聲學(xué)特性。我們一直致力于解決這個(gè)問(wèn)題，我們選擇不同焦點(diǎn)的單晶探頭和TR探頭進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，得到檢測(cè)粗晶材料的最佳探頭參數(shù)。 與此同時(shí)，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據(jù)我們的經(jīng)驗(yàn)和實(shí)驗(yàn)，我們針對(duì)各種粗晶粒材料設(shè)計(jì)了相應(yīng)的探頭，這些探頭都取得了最佳的效果。此外，這些測(cè)試結(jié)果還獲得了最佳信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過(guò)縱波探傷。 通過(guò)與德國(guó)聯(lián)邦材料檢測(cè)研究所（BAM）合作,最新研制的斜探頭和雙晶探頭可連續(xù)工作至 |
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W45B2GV W70B2GV W60B4GV |
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典型的波寬：75% |
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K |
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典型的波寬：100% |
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