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美國GE粗晶探頭

縱波探頭能適用于檢測粗晶材料、原始的鑄造材料，奧氏體和奧氏體焊縫等。

對于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測材料的聲學特性。我們一直致力于解決這個問題，我們選擇不同焦點的單晶探頭和TR探頭進行實驗，得到檢測粗晶材料的最佳探頭參數(shù)。

與此同時，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據(jù)我們的經(jīng)驗和實驗，我們針對各種粗晶粒材料設計了相應的探頭，這些探頭都取得了最佳的效果。此外，這些測試結(jié)果還獲得了最佳信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過縱波探傷。

具有可更換保護膜的直探頭

頻率（MHZ）

接觸面（mm）

尺寸Φ(mm)

K 0.5 S

0.5

40

34

高阻尼

K 1 S

1

40

34

高靈敏度

K 1 SM

1

33

28

非常好的信噪比

B 0.5 SL

0.5

40

34

非常好的靈敏度

B 1 SL

1

40

34

高阻尼，高信噪比

K 1 SC

1

30

24

復合材料壓電晶片

K 1 SC

2

30

24

最好的靈敏度和信噪比

縱波斜探頭—單晶系列，復合材料壓電晶片

頻率（MHZ）

接觸面（mm）

角度（  °）

深度范圍

要求的探頭線

WRY 45

WRY 60

WRY 70

WSY 45-2

WSY 60-2

WSY 70-2

WSY 45-4

WSY 60-4

WSY 70-4

2

2

2

2

2

2

4

4

4

48 x 25

48 x 25

48 x 25

28 x 13

28 x 13

28 x 13

28 x 13

28 x 13

28 x 13

45

60

70

45

60

70

45

60

70

5 - 100

5 - 80

5 - 55

6 - 25

4 - 20

3 - 15

3 - 30

3 - 20

2 - 15

} MPKL 2

} MPKL 2

} MPKL 2

雙晶系列縱波斜探頭—復合材料壓電晶片

頻率（MHZ）

接觸面（mm）

角度（  °）

深度范圍

VRY 45

VRY 60

VRY 70

VSY 45

VSY 60

VSY 70

1,8

1,8

1,8

4

44

53 x 29

53 x 29

53 x 29

30 x 15

30 x 15

30 x 15

45

60

70

45

60

70

15 - 70

10 - 60

5 - 45

2 - 30

1.5 - 20

1.5 - 20

} SEKL 2

} SEKN 2