1786-CTK/B
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近場測量是可用于EMI排查的一種測量，因為它不要求測試站點提供專門的條件就能讓你查出能量源。然而，一致性測試是在遠場中進行的，而不是近場。你通常不會使用遠場，因為有太多的變量讓它變得復雜起來：遠場信號的強度不僅取決于源的強度，而且取決于輻射機制以及可能采取的屏蔽或濾波措施。根據(jù)經驗需要記住，如果你能觀察遠場中的信號，那么應該能看到近場中的相同信號。（然而，能觀察到近場中的信號而看不到遠場中的相同信號是很可能的）
近場探針實際上就是設計用于拾取磁場（H場）或電場（E場）變化的天線。一般來說，近場探針沒有校準數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對測量。如果你對用于測量H場和E場變化的探針不熟悉，那么最好了解一些近場探針設計和最佳使用方法：
H場（磁場）探針具有獨特的環(huán)路設計，如圖8所示。重要的是，H場探針的方向是有利于環(huán)路平面與待測導體保持一致的，這樣布置的環(huán)路可以使磁通量線直接穿過環(huán)路。
圖8：將H場探針與電流流向保持一致可以使磁場線直接穿過環(huán)路。
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