MKS51A075-503-00測控平臺對所測得的數據提供多種測量分析及數據處理選項：
A. MKS51A075-503-00濾波設置
測控平臺提供了豐富的濾波方式，可以針對不同情況進行相應的濾波設置，包含貝塞爾、Butterworth、Chebyshev、反Chebyshev、橢圓等5種濾波的拓撲結構，高通、低通、帶通、帶阻、平滑等5種濾波類型，并可對濾波器高低截止頻率及濾波器階數、IIR/FIR選擇進行相應設置。
圖5 上位機程序濾波選項
B. 波形測量
測控平臺可對臺架試驗系統(tǒng)任意一路傳感器信號進行測量，測試界面劑內容如下圖所示。
圖6MKS51A075-503-00 上位機程序波形測量選項
C. FFT頻譜
測控平臺可對加速度及動行程信號進行FFT幅值（均方根值）、FFT幅值（峰值）、功率譜及功率譜密度測量，并將測量結果以波形的形式顯示。
圖7 上位機程序FFT頻譜選項
D. MKS51A075-503-00幅頻特性分析
測控平臺根據加速度傳感器及位移傳感器測得信號，計算得到車身加速度幅頻特性及動行程幅頻特性。
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MKS51A075-503-00
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Heidenhain Ma?stab LS803 ML1020 (LS 803 ML 1020)
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Heidenhain Ma?stab LS804 ML1020 (LS 804 ML 1020)
Heidenhain Ma?stab LS804 ML1050 (LS 804 ML 1050)
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Ma?stab LS 803, 470 mm MS von Heidenhain
Me?taster TS 641 SK50 von Heidenhain im Austausch
