柔性和剛性PCB變得更加普遍,因為它們的價格更便宜,電子設(shè)備的小型化繼續(xù)推動PCB制造技術(shù)的發(fā)展,以推動更,更緊湊的設(shè)計,無論您是企業(yè)還是個人,錢都是我們都希望節(jié)省的公共資源,對于PCB而言,不要以犧牲價格為代價來追求質(zhì)量。
手持式粘度計維修 美國CSC粘度測量儀維修技術(shù)精湛
凌科維修各種儀器,30+位維修工程師,經(jīng)驗豐富,維修后可測試。主要維修品牌有:美國brookfield博勒飛、博勒飛、德國艾卡/IKA、艾默生、英國BS、HAAKE、Hydramotin、TRUSCO、koehler、德杜儀器、美國CSC、恒平、日本馬康、MALCOM、安東帕、德國IKA/艾卡 、ChemTron、哈克、Fungilab、紡吉萊博、中旺、愛拓、斯派超等儀器都可以維修
這是因為組件可能會根據(jù)其位置而經(jīng)歷數(shù)量級的壽命變化,因此,將計算出的疲勞損傷與確定的壽命限(通過SST獲得)進行比較非常重要,以便確定在必要時哪些組件必須移到損壞較小的位置,此外,組件能力的數(shù)值可用于整個設(shè)計配置。 因此,擁有一個空文件不會發(fā)出警告標志,大綱:包括機械/輪廓嗎,沒有設(shè)計范圍,您將無法獲得準確的報價,更不用說開始生產(chǎn)了,組合2銅/絲印組合:設(shè)計師將公司名稱和零件編號添加到其銅層中時,越來越多的設(shè)計出現(xiàn)了絲印層疊加在銅層上的情況。
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1. 我的電腦無法連接到粘度計的 USB
這是一個常見的障礙,但需要進行簡單的調(diào)整!該問題的診斷是您的計算機無法正常檢測到USB驅(qū)動,因此您的儀器無法連接到計算機和軟件。要更新 USB 驅(qū)動程序,請下載以下鏈接中的更新。
路線:
1) 到達站點后,向下滾動到VCP 驅(qū)動程序部分。
2) 在“處理器架構(gòu)”表中,單擊 Window 2.12.28.3 注釋部分中的“安裝可執(zhí)行文件”。按照更新說明進行操作。下載以下文件,解壓并以管理員權(quán)限運行。這應(yīng)該有助于在您重新啟動軟件時解決問題。
2. 清潔 VROC 芯片時,我沒有看到預(yù)期的結(jié)果
考慮一下您的樣品和清潔工作。如果您的芯片讀取的粘度略高于清潔溶液應(yīng)讀取的粘度,這意味著它可能不是適合您的樣品的清潔溶液,或者芯片內(nèi)部有樣品積聚。您應(yīng)該先檢查正在運行的解決方案。如果您的樣品有 PBS、緩沖液或異丙醇等常用溶劑,建議檢查并嘗試在清潔后運行這些溶劑。
出于存儲目的,建議終達成可以長期存儲芯片的清潔協(xié)議。例如,儲存在糖溶液中并不理想,因為糖溶液會粘附在流動通道上。
一般提示,水不是一種好的清潔劑,原因如下:
高表面張力 – 即使是水溶液,它也不是的清潔劑
氣泡被困在流道中的可能性——由于其高表面張力而導(dǎo)致的另一個結(jié)果
由于位移,總是伴隨著電流流動,電化學(xué)腐蝕發(fā)生在電解池中,在該電解池中,稀有材料(陽區(qū)域)受到腐蝕,完整的腐蝕池由陽和陰組成,陽和陰通過外部電子路徑(電路)和內(nèi)部離子路徑(電解質(zhì))電連接,下面討論三種典型類型的腐蝕池。 您要么[餓死"它,要么用多余的力量[淹沒"它,使其工作更加困難,輸入線電壓低或高(不一致)變壓器邏輯電源邏輯電源電路出現(xiàn)故障,有時是由于正常老化引起的解決方法:與上面的電源故障類似,有一個小窗口可以進行調(diào)整并[保護"驅(qū)動器免受內(nèi)部損壞。 確定項目后,單擊[關(guān)閉"按鈕,[NC參數(shù)"對話框?qū)⑼顺?,從PADS軟件生成NC鉆孔文件|手推車對于鉆取圖層,請選擇它并單擊[編輯",而對于不需要鉆取的圖層,直接單擊[添加",在[編輯文檔"對話框窗口中。
3. 我的 rsquared 值超出了 0.996 - 1.000 范圍
您的樣品可能不均勻,注射器中的樣品中可能存在氣泡,或者由于水等高表面張力而在注射器內(nèi)形成氣泡。請參閱如何從樣品中去除氣泡或通過回載正確加載樣品 來解決此錯誤
4. 我的樣品無法通過我的芯片/我收到 MEMS 傳感器錯誤
您的樣品有顆粒嗎?仔細檢查顆粒尺寸并確保其適用于您的芯片。
粘度計的預(yù)防性維護分為兩部分。部分是將傳感器從生產(chǎn)線上拆下,將其安裝在支架上并進行清潔。在此期間,還應(yīng)拆下并清潔傳感活塞。這是一個簡單的七步過程,只需幾分鐘即可完成。
第二個預(yù)防性維護過程是使用經(jīng)過認證的校準液檢查粘度計系統(tǒng)的準確性。這驗證了粘度測量的準確性和可靠性。這是一個簡單的三步過程,也可以快速執(zhí)行。
在右上方的銅層上顯示了這種困境的一個例子,版本控制:如果將文件提交到PCB制造商,然后再發(fā)送更新的文件,請使用并更新版本級別,即使是經(jīng)驗豐富的設(shè)計師也面臨挑戰(zhàn),修訂控制錯誤可能會造成高昂的代價,幫助傳達意圖的一種簡單方法是提供一個。 如果您告訴您的合同制造商[好的,我們希望增加或減少生產(chǎn)",它可以評估它是否可以滿足需求,同樣,如果您打算進行后一次購買,,,,則需要確保ECM可以與您進行這項大筆,在將舊產(chǎn)品換為新產(chǎn)品時,您將需要受到保護。 對于熱失配的材料,當循環(huán)溫度變化增加時,失效時間通常會減少,熱設(shè)計的主要目的是以低的成本獲得足夠高的可靠性,6.6.2熱傳遞必須將組件中產(chǎn)生的熱量傳遞到周圍環(huán)境中,傳熱有三種基本模式:傳導(dǎo),對流和輻射。 再次形成了電氣測試裝置,該裝置已用于鉭電容器的測試,裝有軸向引線鋁電解電容器的PCB的損壞檢測系統(tǒng)與附錄A中所述的相同,此外,加速度計還用于PCB,來自這些加速度計的振動信號由IOTECH16位1MHz數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)記錄。
可以替代或除此之外的其他方法:SolderWick是一種銅編織物,通過毛細作用吸收焊料;橡膠球型焊錫泵和電機驅(qū)動的真空焊錫返修臺(價格昂貴)。請參閱文檔:《消費類電子設(shè)備的故障排除和維修》以獲取有關(guān)電子組件拆焊的更多信息。塑料連接器中的焊接針用于模制許多常見的廉價連接器的熱塑性塑料會在相對較低的溫度下軟化或熔化。例如,當您嘗試焊接到引腳上以替換不良的連接時,這可能會導(dǎo)致引腳彈出或移動位置(甚至短路)。在某些情況下有效的一種方法是使用配對插座來穩(wěn)定引腳,以使它們在焊接時保持在原位。塑料仍會熔化-如果使用適當尺寸的鐵,熔化的塑料不會那么多,因為插座將充當散熱器-但不會移動。一個重要的考慮因素是使用適當?shù)睦予F。
使用40毫米車身尺寸TBGA的計算結(jié)果來說明系統(tǒng)和組件之間的相互作用。得出的大多數(shù)基本方法和結(jié)論都適用于其他有機封裝,例如倒GA。TBGA封裝的示意圖如圖3所示。封裝尺寸為40mmx40mm,帶有671個焊球I/O和14.6mm芯片??ǖ某叽鐬?6.2毫米x76.2毫米x1.6毫米厚(3英寸x3英寸x0.063英寸),并具有2或1或0銅電源板,厚度為0.036毫米(1.4密耳)。使用C4(受控塌陷芯片連接)技術(shù)將芯片連接到Kapton(杜邦公司的商標)上。Kapton膠帶由頂部銅信號層,Kapton電介質(zhì)層和底部銅電源面層組成。帶有19mm內(nèi)窗口的銅加勁肋附著在硅芯片周圍的膠帶上。使用另一種粘合劑將銅蓋板連接到加強板和芯片上。
但表6.1給出了典型數(shù)字,現(xiàn)在是6,5LeifHalbo和PerOhlckers:電子元器件,包裝和生產(chǎn)對于區(qū)分CAD工作站中定義的尺寸和PCB上的尺寸很重要,這是由于蝕刻不足(請參見第5.8節(jié)),為了提高產(chǎn)量。 為了將它們焊接到印刷儀器維修上,需要使用專門的機械,因為引腳是由必須熔化的焊球制成的,以便與焊盤進行電接觸,由于焊盤和焊球之間的連接處存在非常小的寄生電感,因此BGA組件非常適合于高頻集成電路,這些類型的組件在計算機硬件(例如母板和視頻加速卡)中非常常見。 [填充分數(shù)",電子元器件,包裝和生產(chǎn)由于銅的導(dǎo)熱系數(shù)比聚合物的導(dǎo)熱系數(shù)高得多,因此導(dǎo)熱系數(shù)主要取決于導(dǎo)體層,導(dǎo)體的厚度和填充率,具有四層或更多層的PCB,,具有非常高的填充率的接地層和電源層,這些PCB的導(dǎo)熱性得到了增強。 將失效標準定義為比初始電阻值下降十倍,對照樣品的電阻監(jiān)測顯示在32中,在整個測試期間,電阻91保持超過108歐姆,而沒有下降,具有3個連續(xù)電阻降的Dust3沉積測試板的電阻如33所示,電阻的初始值為106歐姆。
手持式粘度計維修 美國CSC粘度測量儀維修技術(shù)精湛安裝帶有遠程回路指示器的“盲”壓力變送器可能是高溫服務(wù)的合適選擇8.腐蝕在石油和天然氣設(shè)施中,儀器會暴露于不同的過程流體和溫度/壓力條件下,從而容易受到不同類型的腐蝕機制的影響。這些機制導(dǎo)致逐步破壞儀器材料,從而導(dǎo)致:壓力容納能力的喪失/降低會導(dǎo)致過程泄漏,這可能對人員和環(huán)境造成危害損害儀器的功能和性能為避免/減輕上述問題,應(yīng)遵循以下準則以確保適當?shù)牟牧线x擇:腐蝕當然是一個廣泛的話題,但我認為認識到在選擇儀器材料時應(yīng)考慮的10種基本腐蝕機制是有用的:均勻腐蝕,點蝕,電腐蝕,腐蝕腐蝕,應(yīng)力腐蝕開裂(SCC),縫隙腐蝕,氫脆,晶間腐蝕,氫滲透和硫化物應(yīng)力開裂(SSC)。對可能在運行期間發(fā)生的腐蝕機理進行保守評估。 kjbaeedfwerfws