至于V2P結(jié)構(gòu)，評(píng)估失敗的試樣的橫截面并沒有顯示出多余的長絲生長或相關(guān)的電化學(xué)遷移效應(yīng)的證據(jù)，這些證據(jù)可以被認(rèn)為是HAST測(cè)試失敗的根本原因，實(shí)際上，梳狀結(jié)構(gòu)在失敗的樣品處顯示出明顯的銅遷移跡象，圖22在暗場(chǎng)視圖中顯示了TV3處故障結(jié)構(gòu)的示例。
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顯微硬度測(cè)試的常見問題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
并解決了固定邊和簡單支撐邊的問題，結(jié)果列于表27，87表27，PCB固有頻率的分析和有限元解決方案比較固定邊緣簡支邊緣分析解決方案有限元解決方案分析解決方案有限元解決方案1529Hz1513Hz810Hz803Hz誤差=1.05%誤差=0.86%5.3電子元器件振動(dòng)的離散建模組件在兩個(gè)主要方面很重要。 灰塵和海鹽)，相對(duì)濕度，溫度，降水(酸度，強(qiáng)度，持續(xù)時(shí)間和形式)，太陽輻射32(強(qiáng)度和持續(xù)時(shí)間)和風(fēng)(速度和方向)，大氣腐蝕可分為干燥，潮濕，和濕類，在一定的臨界濕度水上會(huì)形成薄薄的濕氣膜(不可見的電解質(zhì))。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定。總而言之，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
f)對(duì)于FR4基介電材料，微通孔的熱循環(huán)測(cè)試在190°C時(shí)有效，這些升高的溫度有效地證明了堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)可以承受3000次以上的熱循環(huán)，g)預(yù)計(jì)故障模式會(huì)在單個(gè)，兩個(gè)，三層和四層微孔結(jié)構(gòu)相對(duì)于它們與PWB結(jié)構(gòu)中心的內(nèi)部結(jié)構(gòu)(埋孔)的關(guān)系和連接。 即使存在氮(N)和氫(H)等元素，也無法檢測(cè)到，76根據(jù)EDS和IC分析結(jié)果，三個(gè)天然粉塵樣品中的主要礦物包括石英(SiO2)，長石(KAlSi3O8-NaAlSi3O8-CaAl2Si2O8)，方解石(CaCO3)。
2、運(yùn)營商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
此外，柔性PCB也常用于設(shè)備應(yīng)用中，通常，設(shè)備在使用時(shí)彎曲的能力是其作為設(shè)備的功能所不可或缺的，電信應(yīng)用電信行業(yè)的產(chǎn)品要求廣泛用于眾多電信應(yīng)用領(lǐng)域的PCB，包括陸地有線通信系統(tǒng)，無線系統(tǒng)，大容量存儲(chǔ)系統(tǒng)。 并且發(fā)現(xiàn)其中一些是由ECM引起的，在板上進(jìn)行了故障分析，包括在立體顯微鏡下的目視檢查，通過離子色譜法(IC)進(jìn)行的表面離子污染分析，通過X射線成像識(shí)別金屬遷移，通過X射線熒光(XRF)分析進(jìn)行批量化學(xué)分析。
3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
這使得測(cè)試對(duì)于工業(yè)采用是不切實(shí)際的，在這項(xiàng)研究中，采用以下方法，先，確定關(guān)鍵的相對(duì)濕度范圍和溫度條件，然后，為ECM評(píng)估中的灰塵選擇這些環(huán)境參數(shù)的適當(dāng)組合，因此，路徑形成步驟被縮短，并在五天內(nèi)成功再現(xiàn)了ECM或腐蝕故障。 當(dāng)伺服系統(tǒng)組件發(fā)生故障時(shí)，您希望盡可能減少停機(jī)時(shí)間，機(jī)械故障的時(shí)間越長，您將損失的時(shí)間和金錢就越多，但是，您可能沒有預(yù)算為每個(gè)伺服組件提供備份，因此，如果您知道哪些自動(dòng)化設(shè)備組件發(fā)生故障頻繁，請(qǐng)為這些有問題的組件購買備份。 在少數(shù)需要運(yùn)送[X-Out"板的情況下，必須遵循以下標(biāo)準(zhǔn)，一種，X-Out被定義為有缺陷的板，它是板的面板陣列的一部分，它已經(jīng)過制造商的測(cè)試和/或檢查，發(fā)現(xiàn)不符合規(guī)格，并且在面板的兩側(cè)均標(biāo)有[X"，包含X-Out板的板(如果已裝運(yùn))必須分開包裝。
不同的生命周期階段也會(huì)有不同的要求。生命周期階段包括驗(yàn)證測(cè)試，制造，運(yùn)輸，存儲(chǔ)，使用和服務(wù)。每個(gè)行業(yè)領(lǐng)域中可接受的故障率也相差很大，因此在產(chǎn)品設(shè)計(jì)上需要有很大的不同。在同一個(gè)產(chǎn)品中，可能還會(huì)有具有不同熱負(fù)荷的電子組件。例如，在LCD觸摸面板中，電壓調(diào)節(jié)器和網(wǎng)絡(luò)模塊可以同時(shí)處于不同的溫度。在某些情況下，可能存在特殊的現(xiàn)場(chǎng)條件。一些產(chǎn)品，例如智能，發(fā)射臺(tái)，自動(dòng)體外除顫器和安全氣囊，需要長期存放，然后再短暫使用。在這些產(chǎn)品中，大部分產(chǎn)品壽命都處于處于非活動(dòng)狀態(tài)的狀態(tài)，這是至關(guān)重要的短期使用所造成的。電子產(chǎn)品需要生存多年并終可靠。良好的設(shè)計(jì)應(yīng)考慮產(chǎn)品的所有生命周期，包括測(cè)試，運(yùn)輸和存儲(chǔ)，而不僅僅是使用階段。
都提到了常見問題，例如焊點(diǎn)幾何形狀和覆蓋范圍，此外，討論了兩種疲勞模型的應(yīng)用場(chǎng)景，在種情況下，工程師將一組現(xiàn)有的疲勞測(cè)試數(shù)據(jù)提供給工程師，以確定如何好地解釋數(shù)據(jù)以及適用哪種疲勞模型，6在第二個(gè)必須為新產(chǎn)品設(shè)計(jì)測(cè)試方案。 如果您的FanucAlpha放大器發(fā)出錯(cuò)誤代碼或僅運(yùn)行了制動(dòng)器，請(qǐng)先檢查伺服電機(jī)是否已連接，然后檢查電纜，如果發(fā)現(xiàn)放大器有故障，請(qǐng)將您的設(shè)備發(fā)送到有經(jīng)驗(yàn)的維修中心，如RepairZone，com，我們可以提供評(píng)估。 但是，在垂直于印刷儀器維修面的軸上振動(dòng)期間，儀器維修會(huì)來回彎曲，因此在組件的電線中會(huì)產(chǎn)生彎曲應(yīng)力，從而將組件固定到印刷儀器維修上(圖1.1)，圖1.振動(dòng)儀器維修上的組件引線彎曲[3]3電子組件承受振動(dòng)的能力取決于許多不同的因素。 然后，建立了具有簡單支撐和固定邊緣的矩形印刷儀器維修的分析模型，此外，建議使用通過導(dǎo)線連接到PCB的特定類型電子元件的分析模型，這些模型可用于PCB和電子元件的固有頻率計(jì)算，以及對(duì)隨機(jī)輸入的響應(yīng)預(yù)測(cè)，1有限元建模使用可靠的商業(yè)有限元軟件ANSYS對(duì)由電子箱。
直到在正弦波上達(dá)到臨界的“點(diǎn)火電壓”為止。在此觸發(fā)電壓下，晶體管（或其他設(shè)備）柵或允許傳導(dǎo)電流。該電流通常隨時(shí)間增加，直到正弦波達(dá)到峰值，然后減小，直到在正弦波的“向下”達(dá)到臨界點(diǎn)火電壓為止。然后，設(shè)備關(guān)閉，電流變?yōu)榱?。在正弦波的?fù)側(cè)會(huì)發(fā)生同樣的事情，并會(huì)吸引第二個(gè)負(fù)電流脈沖。那么，汲取的電流是一系列的正負(fù)脈沖，而不是線性系統(tǒng)汲取的正弦波。一些系統(tǒng)具有不同形狀的波形，例如方波。這些類型的系統(tǒng)通常稱為非線性系統(tǒng)。消耗此類電流的電源稱為開關(guān)模式電源。一旦形成這些脈沖電流，我們將很難分析它們的影響。培訓(xùn)了電力工程師以分析正弦波對(duì)電力系統(tǒng)的影響。分析這些脈沖的影響要困難得多。圖3問題3為了解決這個(gè)問題。
請(qǐng)看 電動(dòng)電位滴定儀故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定交流和減輕質(zhì)量，可靠性或性能下降的風(fēng)險(xiǎn)。該過程要求開發(fā)風(fēng)險(xiǎn)緩解方法并實(shí)施批準(zhǔn)的策略，以減少或消除質(zhì)量逃逸和失敗的可能性。NASA用于管理和降低供應(yīng)鏈風(fēng)險(xiǎn)的一些方法包括：1.識(shí)別風(fēng)險(xiǎn)（例如，與使用特定要求，標(biāo)準(zhǔn)，材料，設(shè)計(jì)，設(shè)施或制造技術(shù)有關(guān)的風(fēng)險(xiǎn)）。2.評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)，進(jìn)行分析以確定風(fēng)險(xiǎn)的可能性（概率）和后果的嚴(yán)重性（例如，性能下降的影響，解釋由于使用過時(shí)的規(guī)范導(dǎo)致的風(fēng)險(xiǎn)，分析影響并評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)的重要性）。3.進(jìn)行故障模式和影響分析，以識(shí)別可能影響印刷或組件功能的模式和故障機(jī)制。4.制定風(fēng)險(xiǎn)管理策略并確定可接受的風(fēng)險(xiǎn)水后，規(guī)劃和實(shí)施解決方案。5.持續(xù)改進(jìn)方法，包括分析重新設(shè)計(jì)的流程，影響規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行基準(zhǔn)測(cè)試。 kjbaeedfwerfws
