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格宏粒徑測試儀故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定
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顯微硬度測試的常見問題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺經(jīng)過正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
但實(shí)驗(yàn)1和4的范圍在5-2100赫茲，在這些實(shí)驗(yàn)中，為了觀察基準(zhǔn)的固有頻率，改變了大頻率水，表18中列出了測試項(xiàng)目和加速度計(jì)的配置，進(jìn)行前三個(gè)實(shí)驗(yàn)是為了了解盒式基座的振動(dòng)特性，并觀察PCB是否受基座運(yùn)動(dòng)的影響。 該蓋角是變化的，并且指出了損傷數(shù)的變化，在圖7.10中，表示了角度牟的損傷變化，cap圖7.組件的方向根據(jù)模擬結(jié)果，對于簡單支持的邊界條件，可以得出以下結(jié)論:1.疲勞損傷先開始增加，然后開始大，然后在45o處開始減小并達(dá)到小。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進(jìn)行測量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測量裝置設(shè)定。總而言之，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測量錯(cuò)誤。
通常銅合金作為引腳材料，將組件引線作為梁，并計(jì)算等效剛度系數(shù)，零部件體為集總質(zhì)量，LL圖56.集成電路俯視圖[28]圖57給出了組件引線的幾何形狀，從圖中可以看出，可以將引線分為兩部分，通過考慮導(dǎo)線的橫向振動(dòng)獲得零件1的等效剛度。 大多數(shù)可靠性工程師都了解這樣一個(gè)現(xiàn)實(shí):在電測量過程中，關(guān)注的關(guān)鍵區(qū)域的靈敏度只是測試電路的體電阻的一小部分，由于涉及的幾何尺寸較小，因此在測試微孔時(shí)，這種情況會(huì)大大放大，任何微通孔可靠性工作的主要職責(zé)是能夠創(chuàng)建專門設(shè)計(jì)的測試車輛。
2、運(yùn)營商。
顯微硬度測試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測試儀可以幫助消除這個(gè)問題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測試儀上，以幫助找到印模末端。
隨著溶解度隨溫度增加，更多的離子溶解到水膜中，水量的增加和離子量的增加導(dǎo)致測量的Rbulk減少，其他因素與灰塵的影響相比，可以忽略PCB材料的吸濕性，如[9]中的BrunauerEmmett/Teller(BET)模型所預(yù)測的。 通過有限元分析對邊緣導(dǎo)軌測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，可以計(jì)算出相應(yīng)的旋轉(zhuǎn)彈簧常數(shù)，然后將旋轉(zhuǎn)彈簧常數(shù)的值整合到11個(gè)圖中，以建立查找表以確定任何環(huán)境下的彈簧常數(shù)，這項(xiàng)研究對于PWB固有頻率的建模和設(shè)計(jì)至關(guān)重要，D。
3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
以提高PCB的制造效率并確保PCB的終性能，OrCADCapture與PSpice之間的合作如下圖1所示，PSpice模擬器|手推車順便說一句，在設(shè)計(jì)仿真之前必須知道四個(gè)元素，如下圖所示，電路仿真|手推車可以應(yīng)用的分析類型PSpice包括DC分析。 而不會(huì)過度加熱導(dǎo)體和PCB，圖6.2顯示了溫度升高與電流和導(dǎo)體橫截面的關(guān)系，該數(shù)據(jù)基于對流向周圍空氣的熱傳遞以及主要在銅箔中的橫向熱傳導(dǎo)，長而窄的導(dǎo)體中的電壓降也可能很重要，它由(圖6.3)給出:R=老xL/(txb)其中老是銅層中的電阻率。 可以提高測試的準(zhǔn)確性，當(dāng)測試聚酰亞胺介電材料(230°C)時(shí)，用FR4制成的微孔結(jié)構(gòu)的測試方法使用了190°C的升高的測試溫度，略高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)和更高的溫度，將審查包括堆疊，填充和堆疊到內(nèi)部掩埋過孔中的微孔在內(nèi)的各種微孔配置的可靠性。
根據(jù)普遍可獲得的數(shù)據(jù)，航天和行業(yè)的這一時(shí)期長達(dá)30年，而和民用行業(yè)的這一時(shí)期則為15至25年。不幸的是，俄羅斯工業(yè)目前無法確保較高的可靠性。俄羅斯航天器事故頻發(fā)，高科技產(chǎn)品（HTP）消費(fèi)者提出的索賠要求增加，也證明了這種情況。對故障原因的研究表明，不可靠的設(shè)備元件是電子組件（EC）。例如[1]，利用的俄羅斯制造的和可進(jìn)入的外國制造的EC（具有商業(yè)和/或工業(yè)等級的EC）無法確保所需的航天器規(guī)格集，也無法確保在暴露于太空環(huán)境的條件下航天器的有效軌道運(yùn)行條件因素。尤其是，確保俄羅斯GLONASS系統(tǒng)運(yùn)行的衛(wèi)星可以正常運(yùn)行的時(shí)間不超過3年，而GPS組件可以正常運(yùn)行30年。這項(xiàng)研究的目的是研究在開發(fā)和制造階段以及在操作過程中對電子部件的可靠性及其消除方法產(chǎn)生不利影響的因素。
結(jié)果是電荷跨電氣化界面轉(zhuǎn)移，非法拉第反應(yīng)不會(huì)直接產(chǎn)生電荷轉(zhuǎn)移，相反，電荷可與電-電解質(zhì)界面處的電解質(zhì)離子的移動(dòng)，溶劑偶子的重新取向或吸附/解吸等相關(guān)，48與法拉第反應(yīng)相對應(yīng)的電流密度可以表示為界面電勢V的函數(shù)。 這些PCB設(shè)計(jì)人員將具有使用各種設(shè)計(jì)策略的經(jīng)驗(yàn)，他們還將可以使用新的軟件進(jìn)行設(shè)計(jì)，您可能還需要考慮使用可以為儀器維修提供一站式解決方案的PCB公司，因?yàn)樗梢源_保產(chǎn)品的一致性，如果您要設(shè)計(jì)PCB或要制造PCB。 當(dāng)走線的加熱等于走線的冷卻時(shí)，走線達(dá)到穩(wěn)定的溫度，走線的發(fā)熱是由走線上的I2R(功率)下降引起的，跡線的冷卻主要是通過電介質(zhì)(板材)傳導(dǎo)的結(jié)果，其次是通過對流和輻射傳導(dǎo)的結(jié)果，直到十年，行業(yè)才意識到電介質(zhì)在痕量冷卻過程中的重要性。 一些無機(jī)化合物是水溶性鹽，灰塵中的無機(jī)礦物顆粒類型很多[29]，包括石英砂(SiO2)，長石(KAlSi3O8-NaAlSi3O8-CaAl2Si2O8)，方解石(CaCO3)，云母(SiO2﹞Al2O3﹞K2O﹞Na2O﹞H2O)和石膏(CaSO4·2H2O)。
（2）某些軸承可能需要加油；（3）壓緊輪上光了。如果技工還不錯(cuò)，則檢查電動(dòng)機(jī)或調(diào)節(jié)器的電子故障。有時(shí)在電機(jī)內(nèi)部或外部都有一個(gè)用于調(diào)節(jié)速度的微調(diào)電位器。可能是調(diào)節(jié)器故障，甚至是連接不良?？梢允褂枚喾N技術(shù)來調(diào)節(jié)記錄/播放速度：電機(jī)內(nèi)部的機(jī)械調(diào)速器-離心觸點(diǎn)以正確的速度打開，從而減小了流向電機(jī)的電流。如果速度太低，則彈簧可能變?nèi)趸蚪佑|不良-打開。如果速度太高，觸點(diǎn)可能被焊接閉合。觸點(diǎn)之間可能有電阻和/或電容器。開路的電阻可能會(huì)導(dǎo)致速度波動(dòng)不穩(wěn)定。可以存在電容器以減少電噪聲。電動(dòng)機(jī)殼體內(nèi)部或電動(dòng)機(jī)外部的電壓調(diào)節(jié)器。調(diào)節(jié)器或晶體管可能有故障。如果電動(dòng)機(jī)的電源似乎直接來自不穩(wěn)定的電源，請用歐姆表檢查電動(dòng)機(jī)端子。
格宏粒徑測試儀故障維修五小時(shí)內(nèi)修復(fù)搞定質(zhì)量大并且相對靠。在這種情況下，歸結(jié)為成本效益?？梢砸韵嗤膬r(jià)格提供膽機(jī)電阻器，其支座更加堅(jiān)固?？梢栽谟覉D和www.ohmite.com/cgibin/showpage.cgi?product=tvw_tvm_series上看到這種對峙的示例根無花果4適當(dāng)?shù)募m正措施是選擇這種包裝樣式，以替代當(dāng)前使用的軸向支座。組合環(huán)境測試下面列出了振動(dòng)和溫度循環(huán)組合測試的結(jié)果：在+80°C/18Grms下：PCB安裝硬件（螺釘和支腳）脫落并導(dǎo)致電氣短路。在-60°C/30Grms下：觀察到泄放電阻器已與印刷分離。組合環(huán)境根本原因分析組合測試中的前兩個(gè)故障是在振動(dòng)階躍應(yīng)力測試中觀察到的相同類型的故障。這與DfR的經(jīng)驗(yàn)是一致的。 kjbaeedfwerfws
