為了評(píng)估ECM的故障，在10VDC電場(chǎng)下于50℃和90%RH的恒定溫度下進(jìn)行測(cè)試，這稱(chēng)為相對(duì)溫度濕度偏差(THB)[18]，它產(chǎn)生電壓腐蝕相關(guān)的故障機(jī)制，并量化不同粉塵沉積測(cè)試板的故障時(shí)間(TTF)，沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試來(lái)評(píng)估灰塵對(duì)ECM和腐蝕引起的70阻抗損失的影響。
上海精科粒度分析儀故障維修持續(xù)維修中
凌科維修各種儀器，30+位維修工程師，經(jīng)驗(yàn)豐富，維修后可測(cè)試。主要維修品牌有：美國(guó)brookfield博勒飛、博勒飛、德國(guó)艾卡/IKA、艾默生、英國(guó)BS、HAAKE、Hydramotin、TRUSCO、koehler、德杜儀器、美國(guó)CSC、恒平、日本馬康、MALCOM、安東帕、德國(guó)IKA/艾卡 、ChemTron、哈克、Fungilab、紡吉萊博、中旺、愛(ài)拓、斯派超等儀器都可以維修
假設(shè)停滯擴(kuò)散過(guò)程中自然對(duì)流被忽略，菲克定律簡(jiǎn)化為考慮EIS中的實(shí)驗(yàn)，濃度可分解為直流和交流成分，在EIS的假設(shè)下，擴(kuò)散速率比測(cè)量頻率要慢得多，因此在測(cè)量時(shí)濃度是恒定的，直流分量的動(dòng)態(tài)被忽略,菲克定律可以用交流分量來(lái)重寫(xiě)。 而AOI方法則不太可能遺漏彎曲的插針或其他從上方看不到的問(wèn)題，除了每個(gè)人都知道的速度因素之外，這具有使AOI檢查比手動(dòng)檢查更可靠的效果，由于AOI檢查方法已被證明比手動(dòng)檢查方法更加專(zhuān)業(yè)和，因此在檢查過(guò)程中檢查的那些標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了明顯的[零件丟失"或[儀器維修損壞"的日子。
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1. 我的電腦無(wú)法連接到粘度計(jì)的 USB
這是一個(gè)常見(jiàn)的障礙，但需要進(jìn)行簡(jiǎn)單的調(diào)整！該問(wèn)題的診斷是您的計(jì)算機(jī)無(wú)法正常檢測(cè)到USB驅(qū)動(dòng)，因此您的儀器無(wú)法連接到計(jì)算機(jī)和軟件。要更新 USB 驅(qū)動(dòng)程序，請(qǐng)下載以下鏈接中的更新。
路線(xiàn)：
1) 到達(dá)站點(diǎn)后，向下滾動(dòng)到VCP 驅(qū)動(dòng)程序部分。
2) 在“處理器架構(gòu)”表中，單擊 Window 2.12.28.3 注釋部分中的“安裝可執(zhí)行文件”。按照更新說(shuō)明進(jìn)行操作。下載以下文件，解壓并以管理員權(quán)限運(yùn)行。這應(yīng)該有助于在您重新啟動(dòng)軟件時(shí)解決問(wèn)題。
2. 清潔 VROC 芯片時(shí)，我沒(méi)有看到預(yù)期的結(jié)果
考慮一下您的樣品和清潔工作。如果您的芯片讀取的粘度略高于清潔溶液應(yīng)讀取的粘度，這意味著它可能不是適合您的樣品的清潔溶液，或者芯片內(nèi)部有樣品積聚。您應(yīng)該先檢查正在運(yùn)行的解決方案。如果您的樣品有 PBS、緩沖液或異丙醇等常用溶劑，建議檢查并嘗試在清潔后運(yùn)行這些溶劑。
出于存儲(chǔ)目的，建議終達(dá)成可以長(zhǎng)期存儲(chǔ)芯片的清潔協(xié)議。例如，儲(chǔ)存在糖溶液中并不理想，因?yàn)樘侨芤簳?huì)粘附在流動(dòng)通道上。
一般提示，水不是一種好的清潔劑，原因如下：
高表面張力 – 即使是水溶液，它也不是的清潔劑
氣泡被困在流道中的可能性——由于其高表面張力而導(dǎo)致的另一個(gè)結(jié)果
以確保它們滿(mǎn)足NASA脫氣要求，但是，由于任務(wù)重點(diǎn)區(qū)域的多樣性，不同的NASA中心的需求也各不相同，用于NASAPCB的保證方法設(shè)計(jì)決策:材料特性和標(biāo)準(zhǔn)材料選擇與設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)相結(jié)合，以確?？芍圃煨?，對(duì)于PCB設(shè)計(jì)保證。 可以定義這些組件的使用壽命，條件是可以使用功率分配單元的振動(dòng)規(guī)范(以功率譜密度形式表示的振動(dòng)輸入負(fù)載)，ZXYLEOPARD1配電單元圖6.配電板電源儀器維修的方向行于z軸(圖6，1)，在進(jìn)行配電PCB的疲勞分析之前。 MFG外傾角底部的固定箔的腐蝕速率值因箔而異，如圖5和6所示，懸掛在腔室上半部分的旋轉(zhuǎn)輪上的金屬箔的腐蝕速率非常緊密地分布，這些圖顯示了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差誤差線(xiàn)，壞情況下的標(biāo)準(zhǔn)偏差是在1700ppbH2SMFG環(huán)境下進(jìn)行的:銅和銀腐蝕速率的標(biāo)準(zhǔn)偏差分別為59和24nm/day。
3. 我的 rsquared 值超出了 0.996 - 1.000 范圍
您的樣品可能不均勻，注射器中的樣品中可能存在氣泡，或者由于水等高表面張力而在注射器內(nèi)形成氣泡。請(qǐng)參閱如何從樣品中去除氣泡或通過(guò)回載正確加載樣品 來(lái)解決此錯(cuò)誤
4. 我的樣品無(wú)法通過(guò)我的芯片/我收到 MEMS 傳感器錯(cuò)誤
您的樣品有顆粒嗎？仔細(xì)檢查顆粒尺寸并確保其適用于您的芯片。
粘度計(jì)的預(yù)防性維護(hù)分為兩部分。部分是將傳感器從生產(chǎn)線(xiàn)上拆下，將其安裝在支架上并進(jìn)行清潔。在此期間，還應(yīng)拆下并清潔傳感活塞。這是一個(gè)簡(jiǎn)單的七步過(guò)程，只需幾分鐘即可完成。
第二個(gè)預(yù)防性維護(hù)過(guò)程是使用經(jīng)過(guò)認(rèn)證的校準(zhǔn)液檢查粘度計(jì)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。這驗(yàn)證了粘度測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。這是一個(gè)簡(jiǎn)單的三步過(guò)程，也可以快速執(zhí)行。
是MehmetSinanHasanolu和EthemBozkurt的支持，作者還想對(duì)她的朋友idem，F(xiàn)iliz，Nevra，zge，Serdar和flke表示感謝，感謝他們?cè)谡麄€(gè)研究過(guò)程中的支持，作者要感謝TolgaTeken對(duì)研究的信任。 當(dāng)印刷儀器維修在振動(dòng)過(guò)程中發(fā)生偏轉(zhuǎn)時(shí)，產(chǎn)生的應(yīng)力的大小取決于儀器維修的撓曲形狀，這種撓曲很大程度上取決于約束儀器維修的邊界條件，然而，可以得出結(jié)論，環(huán)氧玻璃儀器維修可以設(shè)計(jì)成抗疲勞的，實(shí)際上，很少觀察到板本身的結(jié)構(gòu)故障[2]。 請(qǐng)尋找一家提供PCB原型設(shè)計(jì)服務(wù)的電子合同制造商，以作為多合一制造經(jīng)驗(yàn)的一部分，這樣，您的合作伙伴將好地了解如何報(bào)價(jià)您，回答您的設(shè)計(jì)問(wèn)題，等等，為了進(jìn)一步提高成功原型的幾率，請(qǐng)?zhí)崆疤峁┧斜匾奈臋n和指導(dǎo)。 求出響應(yīng)峰分布(瑞利分布)上的增量損傷，連續(xù)分布的損壞積分以0.001sigma增量執(zhí)行，均方根(RMS)應(yīng)力等于1sigma應(yīng)力，在點(diǎn)sigma和1sigma之間的Rayleighpdf下的面積表示在這兩個(gè)點(diǎn)之間出現(xiàn)峰值振幅的2概率。
我用大約1-2厘米的水來(lái)覆蓋PCB。您必須將它們很好地混合在一起，直到開(kāi)發(fā)人員解決為止。用光蝕刻法DIY印刷儀器維修8分鐘后，我從曝光裝置上取下了我的木板，并將其從玻璃面板上剝離下來(lái)?，F(xiàn)在，您需要相對(duì)快速地移動(dòng)并將其放置在顯影劑中，因?yàn)槿绻鷮⑵溥^(guò)多地暴露在光線(xiàn)下，則光刻膠的其他區(qū)域可能會(huì)發(fā)生反應(yīng)，這會(huì)使您的儀器維修混亂。我現(xiàn)在要做的就是將其放入開(kāi)發(fā)人員中。你要我待多久？同樣，沒(méi)有給定的公式來(lái)確定開(kāi)發(fā)所需的時(shí)間。這在很大程度上取決于開(kāi)發(fā)人員的實(shí)力。以我來(lái)說(shuō)2分鐘就足夠了。將儀器維修放入開(kāi)發(fā)人員后的頭10秒鐘是開(kāi)發(fā)人員強(qiáng)度的佳指示：如果銅線(xiàn)立即開(kāi)始出現(xiàn)。則您的開(kāi)發(fā)人員可能太強(qiáng)了，如果根本沒(méi)有出現(xiàn)或太少分鐘比您的開(kāi)發(fā)人員太輕。
適用于水性樣品溶液。它能夠測(cè)量百萬(wàn)分之幾（ppb）和低百萬(wàn)分之幾（PPM）范圍內(nèi)的主要陰離子（例如氯離子和溴離子）以及主要陽(yáng)離子（例如鈉，銨和鉀）的濃度。弱有機(jī)酸（WOA）的濃度也可以通過(guò)IC測(cè)量。IC使用離子交換柱，其中分析物與固定的填充樹(shù)脂相互作用。該樹(shù)脂是一種帶有電荷的化學(xué)基團(tuán)或側(cè)鏈的聚合物，該化學(xué)基團(tuán)或側(cè)鏈共價(jià)鍵合到其骨架上。在陰離子柱中，分析物中的陰離子被吸引到樹(shù)脂上帶正電荷的基團(tuán)上。將樣品溶液注入色譜柱中，并在洗脫液的壓力下使其通過(guò)。洗脫液是一種將分析物推過(guò)色譜柱的液體，其中包含與分析物競(jìng)爭(zhēng)的離子，有助于分離各個(gè)離子。分離能力取決于許多因素，包括使用的洗脫液，電離衡（pKa），每個(gè)離子的物理尺寸以及樹(shù)脂類(lèi)型和樹(shù)脂中的帶電基團(tuán)密度。
對(duì)于印刷儀器維修，適用的主要標(biāo)準(zhǔn)是UL796(用于PCB的特定標(biāo)準(zhǔn))和UL94(用于測(cè)試塑料的可燃性)，每當(dāng)涉及到儀器維修的安全性或可燃性時(shí)，在將儀器維修插入任何設(shè)備之前都必須先獲得UL標(biāo)記，這是為了讓客戶(hù)了解產(chǎn)品的不同標(biāo)準(zhǔn)。 直到找到出現(xiàn)故障的銅互連面為止(圖3a和3b)，然后通過(guò)一個(gè)鍍通孔(PTH)沿直徑方向?qū)悠愤M(jìn)行切片，以便可以在俯視圖中觀察到缺陷區(qū)域(圖4a和4b)，使用光學(xué)和環(huán)境掃描電子顯微鏡(ESEM)進(jìn)行觀察。 四個(gè)測(cè)試板中的一個(gè)在144小時(shí)測(cè)試結(jié)束時(shí)沒(méi)有失敗，因此被暫停，144小時(shí)用于計(jì)算懸浮板，因此，實(shí)際的TTF大于85小時(shí)，對(duì)于其他懸掛板，相同的計(jì)算應(yīng)用于其他組，對(duì)于出現(xiàn)故障的板，在SEM下的多個(gè)位置觀察到了ECM和腐蝕。 則為Divided)，使用[乘數(shù)"和[除法"項(xiàng)來(lái)創(chuàng)建不會(huì)遭受舍入誤差的分?jǐn)?shù)網(wǎng)格，您還可以通過(guò)選擇[顯示"復(fù)選框來(lái)設(shè)置其可見(jiàn)性，選擇確定將保存并顯示網(wǎng)格(如果縮放級(jí)別允許的話(huà))，您可以使用DrawnthStep框更改網(wǎng)格的顯示以繪制任意數(shù)量的網(wǎng)格步。
上海精科粒度分析儀故障維修持續(xù)維修中以80％的置信度，不超過(guò)0.25％的冷卻系統(tǒng)將發(fā)生故障。雖然這對(duì)于單個(gè)空氣移動(dòng)器來(lái)說(shuō)只是一個(gè)中等程度的攻擊目標(biāo)，但使用多個(gè)冗余風(fēng)扇來(lái)滿(mǎn)足此目標(biāo)，則可能成為成本過(guò)高的選擇。此外，在1U機(jī)箱中，包括空氣管理系統(tǒng)的冗余被認(rèn)為既不必要也不可行。因此，選擇的冷卻結(jié)構(gòu)是單個(gè)徑向葉輪，它從機(jī)箱的正面吸入空氣（圖8）。葉輪周?chē)膿醢逋鈿⒊隹趶某隹趥?cè)密封。管道和擋板出口的幾何形狀可根據(jù)需要將空氣分配到系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)處理器，內(nèi)存和芯片組組件（行路徑）后，空氣通過(guò)機(jī)箱后面板排出。圖8.葉輪和雙排放擋板。針對(duì)此特定應(yīng)用的徑向鼓風(fēng)機(jī)的優(yōu)化涉及基于經(jīng)驗(yàn)的設(shè)計(jì)，實(shí)驗(yàn)測(cè)試和數(shù)值模擬的精心計(jì)劃[8]。涉及的領(lǐng)域包括葉片設(shè)計(jì)，中心線(xiàn)軸放置。 kjbaeedfwerfws
