艾默生直流驅(qū)動器電機堵轉(zhuǎn)(維修)實力說話 并重點介紹了需要進行未來研發(fā)以為I&C系統(tǒng)建立可靠建議的領(lǐng)域，該報告還評估了升級電路監(jiān)控系統(tǒng)的相對成本和技術(shù)收益，EPRI觀點隨著核電行業(yè)面臨日益嚴重的老化和過時問題，需要關(guān)注的一個領(lǐng)域是L&C系統(tǒng)中使用的電子板和組件的老化。。開始在系統(tǒng)中查找問題的方法是采用系統(tǒng)范圍的方法。這聽起來有點簡單，但讓我們看看方法。在診斷驅(qū)動系統(tǒng)中的故障跳閘時，請從基本的預防性維護概述開始。制定一個好的 PM 計劃的步驟是必不可少的。
在命令行中輸入“文本”，將存在一個文本窗口，您可以在其中按下文本內(nèi)容。按“確定”后，您可以在屏幕上的鼠標箭頭處看到文本。Eagle直流調(diào)速器設計|手推車C。組件顯示如果您從事的項目過于復雜，以至于其中包含許多組件，并且同一組件出現(xiàn)了不止一次或兩次。在檢查原理圖時，可以通過在輸入組件名稱時突出顯示這些命令來應用命令行。例如，如果在命令行中輸入R1，則原理圖中的所有R1都將變亮，這便于您對該電路進行測試。線寬當您用鼠標按住該導線時，可以在命令行中輸入數(shù)字時修改導線的寬度。實際上，命令行可以在設計過程中執(zhí)行大多數(shù)命令。它甚至可以翻譯某些腳本語言。直流調(diào)速器，是印刷電路板的簡稱，由電子印刷技術(shù)制造，負責為組件提供電連接。
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1、檢查進入直流調(diào)速器的線路電壓和電流。這些電壓應平衡在百分之五以內(nèi)。不平衡的線電壓會導致嚴重的問題。接下來檢查進入直流調(diào)速器輸入的電流。
電流水平可能會因相位而有所不同，而不會引起太多關(guān)注，但有可能會發(fā)現(xiàn)一條線路完全死機。請記住，今天的大多數(shù)直流調(diào)速器仍然可以在缺少一相輸入功率的情況下運行電機。
2、檢查直流調(diào)速器輸出的電壓和電流。直流調(diào)速器產(chǎn)生去往電機的波形。在大多數(shù)直流調(diào)速器上，來自逆變器部分的電壓應在幾伏內(nèi)平衡，電流也應平衡。較大的變化會導致電機劇烈搖晃，并可能導致電機問題。
這些是確定任何給定直流調(diào)速器問題的基本步。這個過程應該定期進行。如果遵循這些程序，則可以消除大多數(shù)問題，并且直流調(diào)速器應該可以提供多年的無故障服務。
電路卡組裝程序的不同會導致從一項測試到另一測試結(jié)果由于數(shù)據(jù)分散而變得復雜。每種測試配置都必須有大量的測試樣本[43]。測試的級別應考慮成本與知識價值之間的關(guān)系。根據(jù)表5.4，重要的推論是仿真結(jié)果能夠確定在測試中首先失敗的電容器。產(chǎn)品或組件的可靠性構(gòu)成產(chǎn)品質(zhì)量的重要方面。對產(chǎn)品可靠性的量化尤其令人感興趣，這樣人們就可以得出對產(chǎn)品預期使用壽命的估計。5.5鉭電容器壽命測試中的Weibull模型Weibull分布廣泛用于可靠一種封裝，其中兩排引線從基座以直角延伸，并且引線和行之間具有標準間距。該包裝用于通孔安裝。21圖5.裝有14引腳PDIP的測試直流調(diào)速器。雙列直插式封裝，Molex2x25引腳型連接器有兩個2x25類型的連接器用于自動損壞檢測基礎設施。
現(xiàn)代直流調(diào)速器非常可靠。隨著半導體技術(shù)的進步和總線電容器性能的提高，以前困擾直流調(diào)速器制造商的許多問題幾乎都消失了。所有主要的直流調(diào)速器制造商都制造了相對堅固和可靠的直流調(diào)速器。最小的內(nèi)部故障發(fā)生?，F(xiàn)在，直流調(diào)速器之外的問題會導致大量直流調(diào)速器故障，并且是導致誤跳閘的主要原因。
艾默生直流驅(qū)動器電機堵轉(zhuǎn)(維修)實力說話結(jié)果表明，錫在該局部環(huán)境中優(yōu)先遷移。與中性水溶液中的錫相比，鉛更易于遷移[37]。如第4.2節(jié)所述，由于作為保護層的SO4-2的存在而形成PbSO4，可以提高Pb的耐腐蝕性。由于現(xiàn)場的隨機沉積過程，粉塵顆粒通常分布不均勻[34]。因此，從粉塵顆粒溶解的陰離子在某些地方具有較高的濃度。這是導致遷移路徑中錫和鉛比變化的因素之一。在SEM下觀察到短路引線之間的枝晶結(jié)構(gòu)形態(tài)，如51所示。有很多細的分支，而不是長棒狀的枝晶。樹枝狀晶體由彼此靠的小結(jié)節(jié)狀樹枝狀晶體組成，如（a）所示。淺灰色柱狀顆粒是粉塵顆粒，主要由Ca和O組成。樹突與粉塵顆?；旌稀＃╞）中的枝晶的EDS120作表明，枝晶結(jié)構(gòu)由Pb和Sn的金屬氧化組成。xdfhjdswefrjhds
