宜興鮑米勒直流發(fā)生器維修分析與處理過程 通過光學(xué)和電子顯微鏡觀察故障部位(以電學(xué)方式確定)，發(fā)現(xiàn)電路板上的一個區(qū)域，在該區(qū)域中，解粘的纖維束將a從鍍通孔(PTH)橋接到銅平面，這種現(xiàn)象高度暗示了導(dǎo)電絲的形成，背景電子封裝的級，印刷電路基板。。開始在系統(tǒng)中查找問題的方法是采用系統(tǒng)范圍的方法。這聽起來有點簡單，但讓我們看看方法。在診斷驅(qū)動系統(tǒng)中的故障跳閘時，請從基本的預(yù)防性維護概述開始。制定一個好的 PM 計劃的步驟是必不可少的。
然后暴露在高濕度下以降低SIR。此測試要求產(chǎn)品在吸濕后通過功能測試。表3中列出了一些標準測試粉塵，例如ISO和ASHREA測試粉塵。它們旨在用于測試空氣過濾器和空氣濾清器。它們?nèi)堪艽蟊壤ǜ?00％）的天然土塵，是從ArizonaTestDust中以原始形式獲得的。亞利桑那州測試粉塵是指在亞利桑那州鹽河谷地區(qū)作業(yè)的拖拉機或農(nóng)具之后或周圍從空中沉降的塵埃。表4列出了Arizona測試粉塵的成分。表標準測試粉塵測試粉塵的成分Arizona測試碳黑磨碎的棉粉塵短絨ISO12103-1，A1100％超細試驗粉塵（1-20um）ISO12103-1，A2100％細試驗粉塵（1-120um）ISO12103-1。
宜興鮑米勒直流發(fā)生器維修分析與處理過程
1、檢查進入直流調(diào)速器的線路電壓和電流。這些電壓應(yīng)平衡在百分之五以內(nèi)。不平衡的線電壓會導(dǎo)致嚴重的問題。接下來檢查進入直流調(diào)速器輸入的電流。
電流水平可能會因相位而有所不同，而不會引起太多關(guān)注，但有可能會發(fā)現(xiàn)一條線路完全死機。請記住，今天的大多數(shù)直流調(diào)速器仍然可以在缺少一相輸入功率的情況下運行電機。
2、檢查直流調(diào)速器輸出的電壓和電流。直流調(diào)速器產(chǎn)生去往電機的波形。在大多數(shù)直流調(diào)速器上，來自逆變器部分的電壓應(yīng)在幾伏內(nèi)平衡，電流也應(yīng)平衡。較大的變化會導(dǎo)致電機劇烈搖晃，并可能導(dǎo)致電機問題。
這些是確定任何給定直流調(diào)速器問題的基本步。這個過程應(yīng)該定期進行。如果遵循這些程序，則可以消除大多數(shù)問題，并且直流調(diào)速器應(yīng)該可以提供多年的無故障服務(wù)。
例如很容易檢測到振動的固有頻率。圖3.隨機過程[42]隨機振動通常由頻域中的功率譜密度函數(shù)表示。許多設(shè)計標準以功率譜密度函數(shù)（PSD）的形式提供有關(guān)隨機過程的數(shù)據(jù)。為了獲得輸入負載的PSD，首先必須將時域25中的負載輸入轉(zhuǎn)換為頻域。這是通過傅立葉級數(shù)表示實現(xiàn)的。但實際上時間歷史將由計算機以離散格式進行數(shù)字記錄。因此，真正需要的是傅立葉變換對的離散版本，可將其應(yīng)用于實際的數(shù)字記錄數(shù)據(jù)。離散變換對執(zhí)行與傅立葉變換對相同的工作，但對數(shù)字記錄的數(shù)據(jù)進行操作。開發(fā)了一種非?？焖俚碾x散傅里葉變換算法，稱為＆快速傅里葉變換*（或FFT）[42]（圖3.7）。圖3.使用FFT表征時間信號[42]通過采用快速傅立葉變換（FFT）的模方得到PSD。
現(xiàn)代直流調(diào)速器非常可靠。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的進步和總線電容器性能的提高，以前困擾直流調(diào)速器制造商的許多問題幾乎都消失了。所有主要的直流調(diào)速器制造商都制造了相對堅固和可靠的直流調(diào)速器。最小的內(nèi)部故障發(fā)生?，F(xiàn)在，直流調(diào)速器之外的問題會導(dǎo)致大量直流調(diào)速器故障，并且是導(dǎo)致誤跳閘的主要原因。
宜興鮑米勒直流發(fā)生器維修分析與處理過程[15]報道了一些關(guān)于表征塑料球柵陣列（PBGA）組件動態(tài)特性的工作。在這項研究中，通過使用實驗?zāi)B(tài)分析和有限元分析來識別塑料球柵陣列組件的BGA組件的固有頻率和模式形狀。在有限元分析中，為了克服由直流調(diào)速器組件的復(fù)雜性和計算機資源的限制所引起的困難，人們開發(fā)了一些技術(shù)。分別對裸露的直流調(diào)速器和帶有PBGA模塊的直流調(diào)速器組件進行了測試和分析。從而可以確定PBGA模塊對直流調(diào)速器動力學(xué)特性的影響。此外，為了評估PBGA組件抵抗振動疲勞的可靠性，進行了具有四個PBGA模塊的PBGA組件的等幅振動疲勞測試（圍繞共振的正弦掃描測試），并估算了PBGA組件的均失效時間（MTTF）。通過使用掃描電子顯微鏡（SEM）觀察到PBGA組件容易受到振動。xdfhjdswefrjhds
