南元TECO馬達調(diào)速器維修分析與處理過程 IPC動員了剛性印刷的一個小組來評估NASA的發(fā)現(xiàn)，由于NASA的研究和修訂提案，IPC通過IPC-6012的修訂1更改了銅箔鍍層的厚度要求，Sood說:[因此，我們期望在NASA上減少廢品。。開始在系統(tǒng)中查找問題的方法是采用系統(tǒng)范圍的方法。這聽起來有點簡單，但讓我們看看方法。在診斷驅(qū)動系統(tǒng)中的故障跳閘時，請從基本的預(yù)防性維護概述開始。制定一個好的 PM 計劃的步驟是必不可少的。
應(yīng)根據(jù)信號流向，功能和模塊放置組件。輸入信號處理單元和輸出信號驅(qū)動組件應(yīng)放置在靠板側(cè)的位置，以使輸入/輸出信號線盡可能短，并減少輸入/輸出干擾。就組件放置方向而言，組件只能垂直或水放置。如果組件之間存在相對較高的電位差，則組件之間的距離應(yīng)足夠大以停止放電。至于中等密度的電路板，應(yīng)基于焊接考慮低功率組件之間的距離。選擇波峰焊接時，組件之間的距離可以在50mil至100mil之間。直流調(diào)速器布局中的電源線和地線設(shè)計對于直流調(diào)速器設(shè)計工程師來說，了解接地線和電源線之間產(chǎn)生噪聲的原因并非難事。即使出色地進行直流調(diào)速器布局，由于對電源和接地線布置的考慮不足而造成的干擾仍會降低產(chǎn)品性能，甚至導(dǎo)致故障。因此。
南元TECO馬達調(diào)速器維修分析與處理過程
1、檢查進入直流調(diào)速器的線路電壓和電流。這些電壓應(yīng)平衡在百分之五以內(nèi)。不平衡的線電壓會導(dǎo)致嚴重的問題。接下來檢查進入直流調(diào)速器輸入的電流。
電流水平可能會因相位而有所不同，而不會引起太多關(guān)注，但有可能會發(fā)現(xiàn)一條線路完全死機。請記住，今天的大多數(shù)直流調(diào)速器仍然可以在缺少一相輸入功率的情況下運行電機。
2、檢查直流調(diào)速器輸出的電壓和電流。直流調(diào)速器產(chǎn)生去往電機的波形。在大多數(shù)直流調(diào)速器上，來自逆變器部分的電壓應(yīng)在幾伏內(nèi)平衡，電流也應(yīng)平衡。較大的變化會導(dǎo)致電機劇烈搖晃，并可能導(dǎo)致電機問題。
這些是確定任何給定直流調(diào)速器問題的基本步。這個過程應(yīng)該定期進行。如果遵循這些程序，則可以消除大多數(shù)問題，并且直流調(diào)速器應(yīng)該可以提供多年的無故障服務(wù)。
?追蹤一種。地面。一旦應(yīng)用了金屬底座，好在底座底部設(shè)置粗銅線作為接地線。直流調(diào)速器的接地線通常取決于大面積布局，布置在電路板的邊緣，其組件在附接地，或者所有接地點都在一個點接地。高頻接地線通常依靠扁銅線來減少對接地線的阻抗控制。線束。線束應(yīng)固定在設(shè)備底座附或框架上。屏蔽之前，應(yīng)將高頻電路中的導(dǎo)線混入線束中。從不同返回路徑引出的高頻電線不應(yīng)放在同一線束中或行布置。相反，它們可以垂直交叉。導(dǎo)線和連接線。組件引線或連接線應(yīng)盡可能短且直。但是，不能將它們拉得太緊，因為應(yīng)為調(diào)試和維護保留足夠的靈活性。高頻電路中的連接線應(yīng)使其直徑和長度盡可能小。絕緣材料不應(yīng)使用高介電常數(shù)或高介電損耗的材料。如果必須行放置導(dǎo)線。
現(xiàn)代直流調(diào)速器非?？煽俊ｋS著半導(dǎo)體技術(shù)的進步和總線電容器性能的提高，以前困擾直流調(diào)速器制造商的許多問題幾乎都消失了。所有主要的直流調(diào)速器制造商都制造了相對堅固和可靠的直流調(diào)速器。最小的內(nèi)部故障發(fā)生。現(xiàn)在，直流調(diào)速器之外的問題會導(dǎo)致大量直流調(diào)速器故障，并且是導(dǎo)致誤跳閘的主要原因。
南元TECO馬達調(diào)速器維修分析與處理過程如表18所示，被粉塵2和粉塵3污染的測試板的相對濕度閾值為106歐姆，相對濕度為60％和82％，如表18所示。50oC，90％RH和10VDC的溫度。定量了不同粉塵類型的TTF。結(jié)果表明，粉塵3的壽命短，其次是粉塵2，粉塵1和粉塵4。故障板的故障分析表明，電阻的下降是由ECM或腐蝕產(chǎn)物橋接相鄰導(dǎo)體引起的。ECM或腐蝕是由粉塵中溶解的離子與銅電極材料的反應(yīng)引起的。如果反應(yīng)產(chǎn)物在電場下通過水膜遷移，則會發(fā)生ECM。灰塵3的總離子濃度高，并且氯離子，硫酸根，銨離子和根離子的離子濃度也高。與其他離子相比，由于其腐蝕性，Cl-和SO42-的離子污染濃度是主要的影響因素。氯化物可能會導(dǎo)致銅腐蝕，具體取決于氯化物的濃度。xdfhjdswefrjhds
