S400是光柵漫反射型NIRS，高近紅外測光精度，可應用于現(xiàn)場測定，
主要用于對固體、粉末及顆粒狀、涂層等樣品化學、物理性質作快速無損定性、定量分析。
技術參數(shù)：
1.波長范圍：1300-2500nm
2.波長重復性：≤1nm
3.掃描間隔： 4、8、16
4.吸光度重復性：≤
5.信噪比：≥103
6.顯示：800×600真彩LCD
7.接口：串行通信口
8.打印：標準噴墨打印
主要特點：
1.近紅外定性及定量分析軟件包，隨機提供外接手提電腦，可運行Windows界面數(shù)據(jù)采集分析處理控制軟件，執(zhí)行單通道光譜掃描、自檢校正、機內建模、檢驗及轉移模型、樣品分析、多通道運算、通道掃描曲線存儲/顯示比較/打印報告等功能；
2.日本原裝進口pbs檢測器帶制冷，積分球反射率95%以上；
3.旋轉式樣品臺背景固定，樣品可全方位旋轉作多面測定，解決混合不均勻問題；
4.上置式樣品池，2種樣品池用于不同樣品；
5.掃描速度小于2min。
