華中地區(qū)EL硅片缺陷測(cè)試儀首選武漢三工光電，現(xiàn)面向全國(guó)銷售，歡迎來(lái)電咨詢，我司專業(yè)生產(chǎn)各種型號(hào)EL硅片缺陷測(cè)試儀。想了解更多有關(guān)EL硅片缺陷測(cè)試儀的價(jià)格、廠家、型號(hào)有關(guān)信息，請(qǐng)立即撥打電話:027-59722666-8012手機(jī):15671696592或QQ:1316003860 在線咨詢。
EL硅片缺陷測(cè)試儀設(shè)備主要參數(shù)：
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型號(hào)規(guī)格 |
EL140S-M |
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有效測(cè)試面積 |
1200mm X 2100mm |
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分辨率 |
140萬(wàn)像素或600萬(wàn)像素 |
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靈敏度 |
可檢測(cè)出裂紋寬度小于0.2μm |
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測(cè)試時(shí)間 |
1s—60s自由設(shè)定 |
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測(cè)試方式 |
無(wú)接觸式 |
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電源參數(shù) |
單相220V 10A 最大加載電壓80V，最大加載電流 10A |
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配置 |
測(cè)試機(jī)臺(tái)（含紅外成像儀）、電腦、專業(yè)軟件 |