晶片表面缺陷測(cè)試儀廠家 ----各型號(hào)晶片表面缺陷測(cè)試儀可以根據(jù)客戶的特殊需求，為客戶定制設(shè)備。網(wǎng)上圖片僅供參考,設(shè)備價(jià)格面議，也可供客戶現(xiàn)場(chǎng)操作、打樣和詳細(xì)了解，歡迎來(lái)電或來(lái)人考察。國(guó)內(nèi)用戶送貨上門，免費(fèi)培訓(xùn)，一年保修，終生上門服務(wù)。三工光電為任何行業(yè)領(lǐng)域設(shè)計(jì)激光設(shè)備，無(wú)論您有什么需求，在三工光電都可以找到一款適合您的機(jī)型。三工光電的工程師將為每一位客戶提供一整套獨(dú)一無(wú)二的解決方案，我們將從加工質(zhì)量、生產(chǎn)效率、生產(chǎn)成本、承受價(jià)位等方面作為參考因素，選配出最適合您需要的激光設(shè)備！請(qǐng)立即撥打電話:027-59722666-8012手機(jī):15671696592或QQ:1316003860 在線咨詢
晶片表面缺陷測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介
武漢三工光電太陽(yáng)能電池電致發(fā)光EL缺陷檢測(cè)儀分為在線、離線型單片組件缺陷檢測(cè)儀，廣泛應(yīng)用于單晶、多晶及薄膜太陽(yáng)能電池片及組件的缺陷檢測(cè)，包括層壓前、層壓后、串焊等引起的缺陷成像分析；
太陽(yáng)電池缺陷檢測(cè)儀是依據(jù)太陽(yáng)電池的電致發(fā)光原理而研制的用于太陽(yáng)電池組件內(nèi)部缺陷檢測(cè)的專用儀器。根據(jù)太陽(yáng)電池、組件中電池片發(fā)光亮度的差異清楚地顯示組件中的裂片（包括隱裂和顯裂）、劣片及焊接缺陷。
我們提供全套的太陽(yáng)能電池片、組件缺陷檢測(cè)儀器及方案，詳細(xì)請(qǐng)與我們聯(lián)系。
晶片表面缺陷測(cè)試儀設(shè)備分類：
1.太陽(yáng)能電池片電致發(fā)光EL缺陷檢測(cè)儀：
手動(dòng)型EL缺陷檢測(cè)儀
研發(fā)型自動(dòng)式EL缺陷檢測(cè)儀
產(chǎn)線批量檢測(cè)型EL缺陷檢測(cè)儀
2.太陽(yáng)能電池組件電致發(fā)光EL缺陷檢測(cè)儀：
全自動(dòng)層壓前組件EL缺陷檢測(cè)儀
全自動(dòng)層壓后組件EL缺陷檢測(cè)儀
半自動(dòng)離線型組件EL缺陷檢測(cè)儀
手動(dòng)型離線型組件EL缺陷檢測(cè)儀
電池片串焊組件EL檢測(cè)儀
其他檢測(cè)要求可根據(jù)客戶要求定制。
晶片表面缺陷測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
我公司提供專業(yè)的太陽(yáng)能電池缺陷電致發(fā)光EL缺陷檢測(cè)儀，包括：在線型、離線型兩種，用于太陽(yáng)能組件和單片的缺陷分析；
型號(hào)規(guī)格
EL140S-M
有效測(cè)試面積
1200mm X 2100mm
分辨率
140萬(wàn)像素或600萬(wàn)像素
靈敏度
可檢測(cè)出裂紋寬度小于0.2μm
測(cè)試時(shí)間
1s—60s自由設(shè)定
測(cè)試方式
無(wú)接觸式
電源參數(shù)
單相220V 10A 最大加載電壓80V，最大加載電流 10A
配置
測(cè)試機(jī)臺(tái)（含紅外成像儀）、電腦、專業(yè)軟件
晶片表面缺陷測(cè)試儀主要特點(diǎn)：
在線inline、離線offline單片組件EL缺陷測(cè)試儀；
高分辨雙CCD設(shè)計(jì)，可對(duì)失效區(qū)域進(jìn)行高分辨圖像放大檢測(cè)；
高分辨CCD可定位圖像分析；
EL電致發(fā)光圖像數(shù)據(jù)采集
整合電接觸系統(tǒng)；
測(cè)試太陽(yáng)能Cell尺寸：up to 6 inch×6 inch，（max.160mm x 160mm）；
整合測(cè)試暗室；
達(dá)到3個(gè)busbars連接；
配備冷卻系統(tǒng)；
電源：-10V 到＋10V/10A；
單晶、多晶太陽(yáng)能電池檢測(cè)；
可擴(kuò)展外加電源；
配備專業(yè)測(cè)試分析軟件：支持操作系統(tǒng)Windows XP，Win 2k，Windows 7，Windows Vista；
晶片表面缺陷測(cè)試儀測(cè)試功能：
顯裂、隱裂、暗裂；
微裂紋；
結(jié)晶缺陷；
焊接缺陷；
失效Cells。