詳細(xì)參數(shù) | |||
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品牌 | GE | 型號(hào) | IC200MDL635 |
結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 控制室安裝 |
LD指令處理器 | 軟PLC | 加工定制 | 否 |
成圖像與像素級(jí)缺陷標(biāo)簽,即使在有限的數(shù)據(jù)集上也能工作,為AI在復(fù)雜工業(yè)環(huán)境中的應(yīng)用開辟了新的可能。
Defect-Gen具體通過兩個(gè)關(guān)鍵方法提高圖像的多樣性和質(zhì)量:一是使用Patch級(jí)建模,二是限制感受野。