即使在有限的數(shù)據(jù)集上也能工作,為AI在復(fù)雜工業(yè)環(huán)境中的應(yīng)用開(kāi)辟了新的可能。
Defect-Gen具體通過(guò)兩個(gè)關(guān)鍵方法提高圖像的多樣性和質(zhì)量:一是使用Patch級(jí)建模,二是限制感受野。
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