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AGILENT 5517C是一款高精度激光干涉儀，由安捷倫科技（Agilent Technologies）生產，現(xiàn)屬于是德科技（Keysight Technologies）的產品線。該產品主要用于精密測量和表面形貌分析，在科學研究、制造業(yè)、半導體制造和精密機械加工等領域具有重要應用。

主要特點

高精度測量：

納米級精度：采用激光干涉技術，提供納米級的測量精度，分辨率極高，適用于對表面形貌、位移、振動等參數的精密測量。

紅色激光源：使用波長為632.8 nm的紅色激光，具有高穩(wěn)定性和精度，能夠產生清晰、穩(wěn)定的干涉條紋，確保測量結果的準確性。

廣泛適用性：

動態(tài)與靜態(tài)測量：適用于動態(tài)測量和靜態(tài)測量，能夠精確測量物體表面的微小變化，如厚度、形狀、間隙、表面輪廓等。

多領域應用：

光學表面測量：用于測量表面形貌，如平面度、表面粗糙度等。

位移與振動測量：適用于高精度位移測量和動態(tài)振動分析，常用于精密機械和自動化設備的測試。

微型組件與半導體測量：廣泛應用于半導體制造中的微型元件和微結構的測量，確保產品的尺寸精度。

研發(fā)領域：在物理學、材料科學和納米技術的研究中，提供準確的表面分析數據。

高穩(wěn)定性與重復性：

優(yōu)異的穩(wěn)定性：即便在環(huán)境條件變化較大的情況下，仍然能夠保持高精度。

高重復性、低噪聲：提供穩(wěn)定可靠的測量結果。

直觀易用的操作界面：

用戶友好：配備直觀的操作界面，用戶可以輕松設置和操作儀器，進行測量和數據分析。

多種數據輸出格式：方便用戶對測量結果進行記錄、處理和進一步分析。

可擴展性：

多種附件搭配：可與光學反射鏡、探測器、掃描平臺等多種附件搭配使用，以擴展其功能和應用范圍。

現(xiàn)場實時測量：適合在生產線或實驗室環(huán)境中使用。

產品規(guī)格

品牌：Agilent（現(xiàn)屬于Keysight）

型號：5517C

形狀：方形

顏色：標準色

規(guī)格：26×33×37（可能因具體配置而異）

凈深度/長度：135 mm

凈重：約2.3 kg（具體重量可能因配置不同而有所差異）

工作電壓：220 V

功率：2700 W（具體功率可能因配置不同而有所差異）

支持系統(tǒng)：PLC/DCS系統(tǒng)