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Langer干擾發(fā)射探頭套組（IC測試系統(tǒng)）S603/S750
品牌：Langer EMV-Technik   
型號(hào)：S603/S750
基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測量

Langer干擾發(fā)射探頭套組S603/S750介紹：
S603/S750的測量確保了測量的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂?ChipScan-ESA 軟件進(jìn)行測量。利用該軟件保存了所有被測點(diǎn)的測量結(jié)果。它允許系統(tǒng)地、快速地比較和分析測量數(shù)據(jù)。

Langer干擾發(fā)射探頭套組S603/S750配置:
1x S603, 1Ω高頻電流表 SMA
1x S750, 150Ω高頻電壓表 SMA
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜

簡短的介紹：
S603 1Ω高頻電流表 SMA：用于直接測量集成電路引腳上的高頻電流。測量時(shí)，把它接到電源引腳（Vdd/Vss）或信號(hào)引腳上。1Ω高頻電流表擁有針腳觸點(diǎn)，借此可以接觸到并對單個(gè)的引腳并進(jìn)行測量。

S750 150Ω高頻電壓表 SMA:高頻電壓表帶有150Ω的耦合電路，它根據(jù)IEC 61967-4測量集成電路引腳的高頻電壓。P750探頭具備高阻抗的電容耦合輸入，因此能夠測量受測物上不同引腳的射頻電壓。